Structural and electrical characterization raw data of HZO-based ferroelectric devices

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dc.conicet.datoinvestigacionid37921
dc.conicet.justificacionThe data was collected in multiple locations: Laboratorio de Ablación Láser (CNEA Buenos AIres, Argentina), C2N (Saclay, France), UNIZAR (Zaragoza, Spain), CN2 (Barcelona, Spain) and University of Groningen (Netherlands).
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dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
dc.conicet.tituloRelacionDevice-area selection of memristive transport regimes in epitaxial Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric devices
dc.datacite.CreatorRubi, Diego
dc.datacite.DateTypeCreado
dc.datacite.DescriptionTypeMétodos
dc.datacite.FunderNameNFFA-EUROPE ACCESS PROPOSAL NOS. ID478 AND ID579 (2023)
dc.datacite.FunderNameEU-H2020-RISE
dc.datacite.FundingReference478 and 579
dc.datacite.FundingReference872631
dc.datacite.PublicationYear2026*
dc.datacite.affiliationComisión Nacional de Energía Atómica
dc.datacite.affiliationComisión Nacional de Energía Atómica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnología. - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnología
dc.datacite.awardTitleNFFA proposals
dc.datacite.awardTitleMELON
dc.datacite.date01/01/2023-31/12/2025
dc.datacite.descriptionMethodology is described in the paper main text.
dc.datacite.languageenges
dc.datacite.publisherConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas*
dc.datacite.relacionRelatedIdentifierTypeHDL - Handle
dc.datacite.resourceTypeGeneraldataset*
dc.datacite.subjectFísica de los Materiales Condensadoses
dc.datacite.subjectCiencias Físicases
dc.datacite.subjectCIENCIAS NATURALES Y EXACTASes
dc.datacite.version1.0es
dc.date.accessioned2026-09-28T11:08:15Z
dc.date.available2026-09-28T11:08:15Z
dc.date.updated2026-09-28T09:39:44Z
dc.description.abstractStructural characterization in Bragg Brentano configuration. Ferroelectricity measurements including both I-V curves and P-V loops. Memristive characterization including both pulsed I-V curves and remnant resistance loops, measured simultaneously. All measurement were recorded at room temperatura. Electrical contact was done with a probe station.es
dc.description.filFil: Rubi, Diego. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnología. - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnología; Argentina
dc.identifier.citationRubi, Diego; (2026): Structural and electrical characterization raw data of HZO-based ferroelectric devices. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. (dataset). http://hdl.handle.net/11336/298470*
dc.identifier.institucionalCONICET
dc.identifier.repoCONICET Digital
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11336/298470
dc.relationtype.isSourceOf11336/298469
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject.keywordferroelectrics hafniaes
dc.subject.keywordmemristorses
dc.subject.keywordneuromorphic computinges
dc.titleStructural and electrical characterization raw data of HZO-based ferroelectric deviceses
dc.typedataset*

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