Structural and electrical characterization raw data of HZO-based ferroelectric devices
Otros responsables
Fecha
Publicador:
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
Fecha de depósito:
28/09/2026
Fecha de creación:
01/01/2023-31/12/2025
Clasificación temática
Palabras clave
Resumen
Structural characterization in Bragg Brentano configuration. Ferroelectricity measurements including both I-V curves and P-V loops. Memristive characterization including both pulsed I-V curves and remnant resistance loops, measured simultaneously. All measurement were recorded at room temperatura. Electrical contact was done with a probe station.
Métodos
Methodology is described in the paper main text.
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