Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Degradation in InAlN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors as monitored by low-frequency noise measurements: Hot phonon effects | 129 | 159 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 |
|---|---|---|---|
| 28 | 16 | 8 | 3 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 57 |
| Holanda | 24 |
| Argentina | 6 |
| Suiza | 2 |
| Chile | 2 |
| Alemania | 2 |
| China | 1 |
| Reino Unido | 1 |
| Sin datos* | 34 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Boydton | 32 |
| Columbus | 6 |
| San Ramon | 4 |
| Lampa | 2 |
| Lanus | 2 |
| San Diego | 2 |
| Santa Rosa | 2 |
| Ashburn | 1 |
| Buenos Aires | 1 |
| Cambridge | 1 |
| Sin datos* | 76 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.