Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| In situ electrical characterization of palladium-based single electron transistors made by electromigration technique | 80 | 111 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 |
|---|---|
| 12 | 3 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 28 |
| Holanda | 19 |
| Suiza | 6 |
| Alemania | 5 |
| Argentina | 2 |
| Francia | 1 |
| Rusia | 1 |
| Sin datos* | 18 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| San Ramon | 6 |
| Ashburn | 5 |
| Columbus | 3 |
| Boardman | 2 |
| Fairfield | 2 |
| Falls Church | 2 |
| Boydton | 1 |
| Lanus | 1 |
| San Diego | 1 |
| Tandil | 1 |
| Sin datos* | 56 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.