Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Deep electron traps in HfO2-based metal-oxide-semiconductor capacitors | 143 | 62 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 |
|---|---|---|---|
| 9 | 13 | 5 | 1 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 36 |
| Holanda | 28 |
| Argentina | 17 |
| China | 10 |
| Alemania | 10 |
| Reino Unido | 4 |
| Suiza | 3 |
| México | 3 |
| Irán | 2 |
| Rusia | 2 |
| Sin datos* | 28 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| San Ramon | 6 |
| Columbus | 5 |
| Boardman | 4 |
| Buenos Aires | 4 |
| Ashburn | 3 |
| Boydton | 3 |
| Louisville | 3 |
| Shenyang | 3 |
| Beijing | 2 |
| Fremont | 2 |
| Sin datos* | 108 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.