Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Deep electron traps in HfO2-based metal-oxide-semiconductor capacitors | 262 | 428 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| enero 2025 | febrero 2025 | marzo 2025 | abril 2025 | mayo 2025 | junio 2025 | julio 2025 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 5 | 11 | 17 | 34 | 33 | 22 | 3 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 86 |
| Holanda | 33 |
| China | 32 |
| Suiza | 27 |
| Argentina | 20 |
| Alemania | 12 |
| Brasil | 5 |
| Reino Unido | 5 |
| Canadá | 3 |
| México | 3 |
| Sin datos* | 36 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Beijing | 23 |
| Ashburn | 10 |
| Boydton | 8 |
| Columbus | 7 |
| San Ramon | 6 |
| Buenos Aires | 5 |
| Boardman | 4 |
| Groningen | 3 |
| Louisville | 3 |
| Shenyang | 3 |
| Sin datos* | 190 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.