Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Deep electron traps in HfO2-based metal-oxide-semiconductor capacitors | 115 | 3 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Holanda | 26 |
| Estados Unidos | 21 |
| Argentina | 17 |
| China | 8 |
| Alemania | 7 |
| Reino Unido | 4 |
| México | 3 |
| Irán | 2 |
| Rusia | 2 |
| India | 1 |
| Sin datos* | 24 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| San Ramon | 6 |
| Boardman | 4 |
| Buenos Aires | 4 |
| Louisville | 3 |
| Shenyang | 3 |
| Ashburn | 2 |
| Fremont | 2 |
| Lanus | 2 |
| Rafael Castillo | 2 |
| Zhengzhou | 2 |
| Sin datos* | 85 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.