Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Deep electron traps in HfO2-based metal-oxide-semiconductor capacitors | 233 | 243 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 | marzo 2025 | abril 2025 | mayo 2025 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 9 | 13 | 5 | 11 | 17 | 34 | 29 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 68 |
| Holanda | 33 |
| China | 27 |
| Suiza | 26 |
| Argentina | 20 |
| Alemania | 12 |
| Reino Unido | 5 |
| Canadá | 3 |
| México | 3 |
| Irán | 2 |
| Sin datos* | 34 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Beijing | 18 |
| Columbus | 7 |
| Ashburn | 6 |
| Boydton | 6 |
| San Ramon | 6 |
| Buenos Aires | 5 |
| Boardman | 4 |
| Groningen | 3 |
| Louisville | 3 |
| Shenyang | 3 |
| Sin datos* | 172 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.