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Numerical modeling of radiation-induced charge neutralization in MOS devices 126 0

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Cantidad de accesos por país

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Estados Unidos 67
Suiza 17
Argentina 14
Holanda 8
Alemania 4
Brasil 3
Francia 3
Singapur 3
Finlandia 2
Chile 1
Sin datos* 4

Cantidad de accesos por ciudad

Visualizaciones
La Plata 11
Columbus 10
Boydton 7
Ashburn 4
Naaldwijk 4
Groningen 2
Helsinki 2
Lanus 2
Ann Arbor 1
Apostoles 1
Sin datos* 82

*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.