Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Outstanding reliability of heavy ion irradiated AlInN/GaN on silicon HFETs | 24 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Holanda | 8 |
| Estados Unidos | 8 |
| Argentina | 6 |
| Francia | 1 |
| México | 1 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Fairfield | 4 |
| Lanus | 2 |
| San Ramon | 2 |
| Ann Arbor | 1 |
| Cuajimalpa | 1 |
| Louisville | 1 |
| Sassenage | 1 |
| Sin datos* | 12 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.