Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Outstanding reliability of heavy ion irradiated AlInN/GaN on silicon HFETs | 41 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 |
|---|---|
| 9 | 8 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 17 |
| Holanda | 10 |
| Argentina | 6 |
| Suiza | 4 |
| Canadá | 1 |
| Francia | 1 |
| Hong Kong | 1 |
| México | 1 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Columbus | 4 |
| Fairfield | 4 |
| Ashburn | 3 |
| Lanus | 2 |
| San Ramon | 2 |
| Ann Arbor | 1 |
| Boydton | 1 |
| Central | 1 |
| Cuajimalpa | 1 |
| Louisville | 1 |
| Sin datos* | 21 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.