Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging

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dc.conicet.fuenteindividual
dc.conicet.organizacionUniversity of Texas at San Antonio. San Antonio
dc.conicet.organizacionUniversidad de Cádiz
dc.conicet.organizacionConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Investigaciones en Físico-química de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Instituto de Investigaciones en Físico-química de Córdoba
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dc.conicet.produccionid5114839
dc.contributor.authorGarcia, Alejandra
dc.contributor.authorRaya, Andres M.
dc.contributor.authorMariscal, Marcelo
dc.contributor.authorEsparza, Rodrigo
dc.contributor.authorHerrera, M.iriam
dc.contributor.authorMolina, Sergio I.
dc.contributor.authorScavello, Giovanni
dc.contributor.authorGalindo, Pedro L.
dc.contributor.authorYacamán, Miguel Jose
dc.contributor.authorPonce, Arturo
dc.date.accessioned2017-12-22T13:25:16Z
dc.date.available2017-12-22T13:25:16Z
dc.date.issued2014-06
dc.date.updated2017-12-21T16:26:12Z
dc.description.abstractIn this work we examined MoS2sheets by aberration-corrected scanning transmission electron micro-scopy (STEM) at three different energies: 80, 120 and 200 kV. Structural damage of the MoS2sheets hasbeen controlled at 80 kV according a theoretical calculation based on the inelastic scattering of theelectrons involved in the interaction electron–matter. The threshold energy for the MoS2material hasbeen found and experimentally verified in the microscope. At energies higher than the energy thresholdwe show surface and edge defects produced by the electron beam irradiation. Quantitative analysis atatomic level in the images obtained at 80 kV has been performed using the experimental images and viaSTEM simulations using SICSTEM software to determine the exact number of MoS2layers.es
dc.description.filFil: Garcia, Alejandra. University of Texas at San Antonio. San Antonio; Estados Unidos
dc.description.filFil: Raya, Andres M.. Universidad de Cádiz; España
dc.description.filFil: Mariscal, Marcelo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Investigaciones en Físico-química de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Instituto de Investigaciones en Físico-química de Córdoba; Argentina
dc.description.filFil: Esparza, Rodrigo. University of Texas at San Antonio. San Antonio; Estados Unidos
dc.description.filFil: Herrera, M.iriam. Universidad de Cádiz; España
dc.description.filFil: Molina, Sergio I.. Universidad de Cádiz; España
dc.description.filFil: Scavello, Giovanni. Universidad de Cádiz; España
dc.description.filFil: Galindo, Pedro L.. Universidad de Cádiz; España
dc.description.filFil: Yacamán, Miguel Jose. University of Texas at San Antonio. San Antonio; Estados Unidos
dc.description.filFil: Ponce, Arturo. University of Texas at San Antonio. San Antonio; Estados Unidos
dc.formatapplication/pdfes
dc.identifier.citationGarcia, Alejandra; Raya, Andres M.; Mariscal, Marcelo; Esparza, Rodrigo; Herrera, M.iriam; et al.; Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging; Elsevier Science; Ultramicroscopy; 146; 6-2014; 33-38es
dc.identifier.institucionalCONICET
dc.identifier.issn0304-3991es
dc.identifier.repoCONICET Digital
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11336/31351
dc.journal.ciudadAmsterdames
dc.journal.pagination33-38es
dc.journal.paisPaíses Bajoses
dc.journal.titleUltramicroscopyes
dc.journal.volume146es
dc.language.isoenges
dc.publisherElsevier Sciencees
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2014.05.004
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399114001041
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess*
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/*
dc.subjectLow-Voltage Transmission Electrones
dc.subjectMicroscopyes
dc.subjectAberration-Corrected Microscopyes
dc.subjectMolybdenum Disulfidees
dc.subjectRadiation Damagees
dc.subject.classificationNano-materialeses
dc.subject.classificationNanotecnologíaes
dc.subject.classificationINGENIERÍAS Y TECNOLOGÍASes
dc.titleAnalysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaginges
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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