Artículo

Eficiencia de difracción del registro de speckle modulados generados a partir de superficies reflecto-difusoras

Molina Prado, Martha Lucia Icon; Tebaldi, Myriam Cristina Icon; Bolognini, Nestor Alberto Icon

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Fecha

2012

Editorial

Universidad de Pamplona. Facultad de Ciencias Básicas

Revista

Bistua

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ISSN

0120-4211

eISSN

2711-3027

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Idioma

Español

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Resumen

En este trabajo se amplia el estudio de difracción de los registros de patrones de speckle modulados generados por superficies reflecto-difusoras en medios fotorrefractivos, se investiga la influencia de la aplicación de un campo eléctrico externo y la relevancia de la orientación relativa de este campo respecto a la dirección de las redes de índices que modulan los speckle individuales, es decir, la orientación de las pupilas. Además se definen los parámetros a ser seleccionados, en términos de lograr un compromiso que mantenga buenos valores de eficiencia para realizar aplicaciones con este tipo de montaje experimental.
In this paper extends the diffraction study of the recording modulated speckle patterns generated by diffusing reflectors surfaces in photorefractive crystals. The diffraction efficiency in terms of the application of an external electric field and the relative orientation of the field with respect a grating of indices which modulated speckle, ie the orientation of the pupils, are studied. Besides the parameters to be selected, in terms of achieving a compromise that maintains good efficiency values for applications of this experimental setup.
Neste artigo estende a registos de difracção de estudo modulados salpico padrões gerados por superfícies difusoras reflectores media fotorrefrativos, investigando a influência da aplicação de um campo eléctrico externo e a importância da orientação relativa do campo no que diz respeito os índices de endereço de rede que modulam salpico indivíduo, isto é, a orientação dos alunos. Além de definir os parâmetros a serem selecionados, em termos de obtenção de um compromisso que mantém bons valores de eficiência para aplicações de configuração, tais experimental.

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