Electrical and spectroscopic analysis in nanostructured SnO2: "long-term" resistance drift is due to in-diffusion

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dc.conicet.organizacionUniversita Di Ferrara
dc.conicet.organizacionIstituto di Acustica e Sensoristica “O. M. Corbino”
dc.conicet.organizacionUniversita Di Ferrara
dc.conicet.organizacionUniversita di Torino
dc.conicet.organizacionConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación en Ciencia y Tecnología de Materiales (i)
dc.conicet.organizacionUniversidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería
dc.conicet.paisOrganizacionItalia
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dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
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dc.conicet.produccionid4449323
dc.contributor.authorMalagù, Cesare
dc.contributor.authorGiberti, Alessio
dc.contributor.authorMorandi, Sara
dc.contributor.authorAldao, Celso Manuel
dc.date.accessioned2016-12-27T17:53:30Z
dc.date.available2016-12-27T17:53:30Z
dc.date.issued2011-11-07
dc.date.updated2016-10-26T21:17:57Z
dc.description.abstractA model for conductance in n-type non-degenerate semiconductors is proposed and applied to polycrystalline SnO2 used as a gas sensor. Particular attention is devoted to the fundamental mechanism of Schottky barrier formation due to surface states in nanostructured grains. Electrical and absorption infra-red spectroscopic analysis constitutes strong evidence for oxygen diffusion into the tin oxide grains. The model is then extended to include oxygen in- and out-diffusion. Thus, it is possible to explain the “long-term” resistance drift in oxygen for fully depleted grained samples in terms of tunneling through the double barrier.es
dc.description.filFil: Malagù, Cesare. Universita Di Ferrara; Italia. Istituto di Acustica e Sensoristica “O. M. Corbino”; Italia
dc.description.filFil: Giberti, Alessio. Universita Di Ferrara; Italia
dc.description.filFil: Morandi, Sara. Universita di Torino; Italia
dc.description.filFil: Aldao, Celso Manuel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación en Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.formatapplication/pdfes
dc.identifier.citationMalagù, Cesare; Giberti, Alessio; Morandi, Sara; Aldao, Celso Manuel; Electrical and spectroscopic analysis in nanostructured SnO2: "long-term" resistance drift is due to in-diffusion; American Institute Of Physics; Journal Of Applied Physics; 110; 9; 7-11-2011; 519-527es
dc.identifier.issn0021-8979
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11336/10312
dc.journal.ciudadNueva Yorkes
dc.journal.number9es
dc.journal.pagination519-527es
dc.journal.paisEstados Unidoses
dc.journal.titleJournal Of Applied Physicses
dc.journal.volume110es
dc.language.isoenges
dc.publisherAmerican Institute Of Physicses
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.3658870
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1063/1.3658870
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess*
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/es
dc.subjectNanoestructure Tin Oxidees
dc.subjectMetal Oxide Sensorses
dc.subjectVacancieses
dc.subjectSurface Stateses
dc.subjectTunnelinges
dc.subjectConduction Bandses
dc.subjectFourier Transform Infrared Spectroscopyes
dc.subject.classificationOtras Ingeniería de los Materialeses
dc.subject.classificationIngeniería de los Materialeses
dc.subject.classificationINGENIERÍAS Y TECNOLOGÍASes
dc.subject.classificationFísica de los Materiales Condensadoses
dc.subject.classificationCiencias Físicases
dc.subject.classificationCIENCIAS NATURALES Y EXACTASes
dc.titleElectrical and spectroscopic analysis in nanostructured SnO2: "long-term" resistance drift is due to in-diffusiones
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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