Alternative admissible biased estimators

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dc.conicet.fuenteindividual
dc.conicet.organizacionUniversidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica
dc.conicet.organizacionUniversidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica
dc.conicet.organizacionConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
dc.conicet.organizacionConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto Argentino de Matemática Alberto Calderón
dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
dc.conicet.produccionid9539077
dc.conicet.rolAutor
dc.conicet.rolAutor
dc.conicet.rolAutor
dc.contributor.authorGama, Fernando
dc.contributor.authorCasaglia, Daniel Claudio
dc.contributor.authorCernuschi Frias, Bruno
dc.coverageInternacional
dc.date.accessioned2022-05-14T00:56:30Z
dc.date.available2022-05-14T00:56:30Z
dc.date.evento2012-06-13
dc.date.eventoHasta2012-06-15
dc.date.issued2013es
dc.date.updated2022-05-12T06:24:55Z
dc.description.abstractIn this work, a biased estimator obtained from an affine transformation of an unbiased estimator will be analyzed. In particular, the method proposed by Y. C. Eldar will be studied, and alternative approaches will be developed for the construction of biased estimators through transformations of unbiased ones. It is finally shown through simulations, that both estimators proposed in this work perform better than other estimators analyzed.es
dc.description.ciudadEventoCórdobaes
dc.description.filFil: Gama, Fernando. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica; Argentina
dc.description.filFil: Casaglia, Daniel Claudio. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.filFil: Cernuschi Frias, Bruno. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto Argentino de Matemática Alberto Calderón; Argentina
dc.description.institucionOrganizadoraInstitute of Electrical and Electronics Engineerses
dc.description.nombreEventoIEEE ARGENCONes
dc.description.paisEventoArgentinaes
dc.formatapplication/pdfes
dc.identifier.citationAlternative admissible biased estimators; IEEE ARGENCON; Córdoba; Argentina; 2012; 40-47es
dc.identifier.institucionalCONICET
dc.identifier.issn1548-0992es
dc.identifier.repoCONICET Digital
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11336/157551
dc.journal.ciudadCórdobaes
dc.journal.number1es
dc.journal.pagination40-47es
dc.journal.paisArgentinaes
dc.journal.volume11es
dc.language.isoenges
dc.publisherInstitute of Electrical and Electronics Engineerses
dc.relationhttps://ri.conicet.gov.ar/handle/11336/3375es
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TLA.2013.6502775
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/6502775
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccess*
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/*
dc.source.libroConference Proceedings. IEEE Sección Argentina, FCEFyN Universidad Nacional de Córdoba. Editorial Científica Universitaria, Universitas. pp. 105 (1–6) ISBN: 987572076-3es
dc.subjectELECTRONIC COUNTERMEASURESes
dc.subjectSILICONes
dc.subjectSILICON COMPOUNDSes
dc.subjectABSTRACTSes
dc.subjectANALYTICAL MODELSes
dc.subjectESTIMATIONes
dc.subjectMEAN SQUARE ERROR METHODSes
dc.subject.classificationIngeniería de Sistemas y Comunicacioneses
dc.subject.classificationIngeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Informaciónes
dc.subject.classificationINGENIERÍAS Y TECNOLOGÍASes
dc.titleAlternative admissible biased estimatorses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.type.publicacionJournales
dc.type.subtypeCongresoes

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