Alternative Admissible Biased Estimators

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dc.conicet.organizacionConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto Argentino de Matemáticas
dc.conicet.organizacionUniversidad de Buenos Aires. Facultad de Ingenieria. Departamento de Electronica
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dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
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dc.conicet.produccionid2781350
dc.contributor.authorCernuschi Frias, Bruno
dc.contributor.authorGama, Fernando
dc.contributor.authorCasaglia, Daniel
dc.date.accessioned2016-01-06T15:15:00Z
dc.date.available2016-01-06T15:15:00Z
dc.date.issued2013-02
dc.date.updated2016-03-30 10:35:44.97925-03
dc.description.abstractIn this work, a biased estimator obtained from an affine transformation of an unbiased estimator will be analyzed. In particular, the method proposed by Y. C. Eldar will be studied, and alternative approaches will be developed for the construction of biased estimators through transformations of unbiased ones. It is finally shown through simulations, that both estimators proposed in this work perform better than other estimators analyzed.es
dc.description.filFil: Cernuschi Frias, Bruno. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto Argentino de Matemáticas; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingenieria. Departamento de Electronica; Argentina
dc.description.filFil: Gama, Fernando. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingenieria. Departamento de Electronica; Argentina
dc.description.filFil: Casaglia, Daniel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingenieria. Departamento de Electronica; Argentina
dc.formatapplication/pdfes
dc.identifier.citationCernuschi Frias, Bruno; Gama, Fernando; Casaglia, Daniel; Alternative Admissible Biased Estimators; Institute Of Electrical And Electronics Engineers; Ieee Latin America Transactions; 11; 1; 2-2013; 40-47es
dc.identifier.issn1548-0992
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11336/3375
dc.journal.ciudadNew Yorkes
dc.journal.number1es
dc.journal.pagination40-47es
dc.journal.paisEstados Unidoses
dc.journal.titleIeee Latin America Transactionses
dc.journal.volume11es
dc.language.isoenges
dc.publisherInstitute Of Electrical And Electronics Engineerses
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TLA.2013.6502775
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess*
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/es
dc.subjectBiased Estimationes
dc.subjectDominant Estimatorses
dc.subjectAdmissibilityes
dc.subject.classificationIngeniería de Sistemas y Comunicacioneses
dc.subject.classificationIngeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Informaciónes
dc.subject.classificationINGENIERÍAS Y TECNOLOGÍASes
dc.titleAlternative Admissible Biased Estimatorses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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