Arsenic speciation by X-ray spectroscopy using resonant Raman scattering
; Leani, Juan Jose
; Perez, C. A. ; Perez, Roberto Daniel 
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Fecha
12/2013
Editorial
Springer
Revista
Journal Of Applied Spectroscopy
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Institución organizadora
ISSN
0021-9037
eISSN
1573-8647
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Idioma
Inglés
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Resumen
We have shown that X-ray resonant Raman scattering (RRS) spectroscopy can be used to analyze arsenic species. This work is pioneer in the area and an important work on the result interpretation is necessary in the future. Nevertheless, this behavior in the RRS residuals of compounds can be used to identify the oxidation state of the elements under study, offering a new possibility of the chemical environment determination using RRS spectroscopy.
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