Artículo

Arsenic speciation by X-ray spectroscopy using resonant Raman scattering

Sanchez, Hector Jorge Icon; Leani, Juan Jose Icon; Perez, C. A. ; Perez, Roberto Daniel Icon

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Fecha

12/2013

Editorial

Springer

Revista

Journal Of Applied Spectroscopy

Título del libro

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Fecha del evento

Institución organizadora

ISSN

0021-9037

eISSN

1573-8647

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Idioma

Inglés

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Resumen

We have shown that X-ray resonant Raman scattering (RRS) spectroscopy can be used to analyze arsenic species. This work is pioneer in the area and an important work on the result interpretation is necessary in the future. Nevertheless, this behavior in the RRS residuals of compounds can be used to identify the oxidation state of the elements under study, offering a new possibility of the chemical environment determination using RRS spectroscopy.

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