Absorptance homogeneity and its relaxation in thin films by photothermal microscopy
; Mingolo, Nelida ; Martinez, Oscar Eduardo ; Rocca, Jorge J. ; Menoni, Carmen S. Otros responsables
Fecha
2019
Editorial
Optical Society of America
Revista
Título del libro
Nombre del evento
Optical Interference Coatings Conference
Fecha del evento
2019-06-02
Institución organizadora
Optical Society of America
ISSN
eISSN
ISBN
978-1-943580-58-3
Idioma
Inglés
Tipo del evento
Conferencia
Clasificación temática
Palabras clave
Resumen
A photothermal microscope for absorptance homogeneity analysis is described. Absorptance maps with micrometer resolution and high sensitivity are obtained. Changes in absorptance are due to laser annealing of defects via one and two-photon processes.
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