Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of tin oxide films

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dc.conicet.fuenteunificacion
dc.conicet.organizacionConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales
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dc.conicet.paisOrganizacionArgentina
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dc.conicet.produccionid6533106
dc.contributor.authorCastro, Miriam Susana
dc.contributor.authorSuarez, Maria Patricia
dc.contributor.authorAldao, Celso Manuel
dc.date.accessioned2018-03-02T20:54:04Z
dc.date.available2018-03-02T20:54:04Z
dc.date.issued2001-08
dc.date.updated2018-02-19T16:56:01Z
dc.description.abstractSnO2 thick films have been studied with scanning tunneling microscopy and spectroscopy. Topographic images revealed grains with an average diameter of about 100 nm and roughness of 50 nm. Tunneling current-voltage characteristics measured indicate that these small grains present a non rectifying behavior. Temperature dependence of electrical conductivity during heating and cooling and resistivity transients at step isothermal changes in oxygen pressure were also investigated. Results are consistent with those of STM and confirm that oxygen adsorption and diffusion into the tin oxide grain account for the observed conductance changes.es
dc.description.filFil: Castro, Miriam Susana. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.description.filFil: Suarez, Maria Patricia. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.description.filFil: Aldao, Celso Manuel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.formatapplication/pdfes
dc.identifier.citationCastro, Miriam Susana; Suarez, Maria Patricia; Aldao, Celso Manuel; Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of tin oxide films; Elsevier; Journal of the European Ceramic Society; 21; 8; 8-2001; 1115-1119es
dc.identifier.institucionalCONICET
dc.identifier.issn0955-2219es
dc.identifier.repoCONICET Digital
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11336/37751
dc.journal.ciudadAmsterdames
dc.journal.number8es
dc.journal.pagination1115-1119es
dc.journal.paisPaíses Bajoses
dc.journal.titleJournal of the European Ceramic Societyes
dc.journal.volume21es
dc.language.isoenges
dc.publisherElsevieres
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0955221900002971
dc.relation.alternativeidinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/S0955-2219(00)00297-1
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess*
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/*
dc.subjectDefectses
dc.subjectElectrical Propertieses
dc.subjectFilmses
dc.subjectGrain Boundarieses
dc.subjectSensorses
dc.subjectSno2es
dc.titleScanning tunneling microscopy and spectroscopy of tin oxide filmses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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