Alcances de la microscopía electrónica de transmisión en el estudio cristalográfico de los materiales

Abstract

La microscopía electrónica de transmisión (TEM) encierra numerosas y variadas técnicas. Las técnicas más conocidas se dedican al estudio de materiales en el plano real, lo que involucra las imágenes obtenidas en campo claro, campo oscuro e imágenes de alta resolución. Sin embargo, existen diversos modos de operación donde se trabaja en el espacio recíproco. Esto involucra patrones de difracción de área selecta y diversas técnicas de haz convergente (Figura 1). La finalidad de este trabajo es brindar información acerca de algunas técnicas de TEM que son capaces de ayudar en el estudio cristalográfico de los materiales. Para lograr dicho cometido se hará una breve introducción a fin de entender el funcionamiento de un microscopio electrónico de transmisión y se explicará cómo es posible en este instrumento vincular las imágenes reales al espacio recíproco fácilmente. Luego se comentarán otras técnicas de haz convergente sumamente útiles para indagar estructuras cristalográficas (microdifracción, haz convergente y haz convergente de alto ángulo). Finalmente, se mostrarán las más recientes técnicas experimentales en el campo de difracción de electrones en microscopios electrónicos de transmisión, como es la técnica de 4D STEM, que combina haz convergente con el sistema de barrido del haz.