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dc.contributor.author
Tendela, Lucas Pedro
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dc.contributor.author
Galizzi, Gustavo Ernesto
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dc.date.available
2019-11-11T21:10:00Z
dc.date.issued
2018-11
dc.identifier.citation
Tendela, Lucas Pedro; Galizzi, Gustavo Ernesto; A novel approach for measuring nanometric displacements by correlating speckle interferograms; Elsevier; Optics And Lasers In Engineering; 110; 11-2018; 149-154
dc.identifier.issn
0143-8166
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/88555
dc.description.abstract
Recently, two phase evaluation methods were proposed to measure nanometric displacements by means of digital speckle pattern interferometry when the phase changes introduced by the deformation are in the range [0, π) rad. However, one of these techniques requires separate recording of the intensities of the object and the reference beams which correspond to both the initial and the deformed interferograms. The other technique only works to measure out-of-plane displacements. In this paper, we present a novel approach that overcomes these limitations. The performance of the proposed method is analyzed using computer-simulated speckle interferograms and it is also compared with the results obtained with a phase-shifting technique. Finally, an application of the proposed phase method used to process experimental data is illustrated.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.subject
CORRELATION COEFFICIENT
dc.subject
NANOMETRIC DISPLACEMENTS
dc.subject
PHASE EVALUATION
dc.subject
SPECKLE INTERFEROMETRY
dc.subject.classification
Otras Ingeniería de los Materiales
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dc.subject.classification
Ingeniería de los Materiales
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
A novel approach for measuring nanometric displacements by correlating speckle interferograms
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2019-10-24T14:55:54Z
dc.journal.volume
110
dc.journal.pagination
149-154
dc.journal.pais
Países Bajos
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dc.journal.ciudad
Amsterdam
dc.description.fil
Fil: Tendela, Lucas Pedro. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Rosario. Instituto de Física de Rosario. Universidad Nacional de Rosario. Instituto de Física de Rosario; Argentina
dc.description.fil
Fil: Galizzi, Gustavo Ernesto. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Rosario. Instituto de Física de Rosario. Universidad Nacional de Rosario. Instituto de Física de Rosario; Argentina
dc.journal.title
Optics And Lasers In Engineering
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816618304366
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.optlaseng.2018.05.023
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