Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores | 368 | 156 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| enero 2024 |
|---|
| 1 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| México | 91 |
| China | 55 |
| Estados Unidos | 42 |
| Perú | 25 |
| Argentina | 22 |
| Holanda | 18 |
| Colombia | 16 |
| Irlanda | 13 |
| Francia | 7 |
| Ecuador | 6 |
| Sin datos* | 73 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Mexico | 22 |
| Lima | 21 |
| Mountain View | 11 |
| Bogotá | 8 |
| Saint-ouen | 7 |
| San Ramon | 7 |
| Tlalpan | 7 |
| Changsha | 6 |
| Guadalajara | 6 |
| Guangzhou | 6 |
| Sin datos* | 267 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.