Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores | 424 | 168 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 |
|---|---|
| 17 | 39 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| México | 91 |
| Estados Unidos | 78 |
| China | 55 |
| Perú | 25 |
| Argentina | 22 |
| Holanda | 20 |
| Colombia | 16 |
| Irlanda | 14 |
| Alemania | 11 |
| Francia | 7 |
| Sin datos* | 85 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Mexico | 22 |
| Lima | 21 |
| Mountain View | 11 |
| San Antonio | 10 |
| Bogotá | 8 |
| Saint-ouen | 7 |
| San Ramon | 7 |
| Tlalpan | 7 |
| Changsha | 6 |
| Guadalajara | 6 |
| Sin datos* | 319 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.