Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
Título | Visualizaciones | Descargas |
---|---|---|
Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores | 368 | 156 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
octubre 2023 | noviembre 2023 | diciembre 2023 | enero 2024 |
---|---|---|---|
17 | 12 | 2 | 1 |
Cantidad de accesos por país
Visualizaciones | |
---|---|
México | 91 |
China | 55 |
Estados Unidos | 42 |
Perú | 25 |
Argentina | 22 |
Holanda | 18 |
Colombia | 16 |
Irlanda | 13 |
Francia | 7 |
Ecuador | 6 |
Sin datos* | 73 |
Cantidad de accesos por ciudad
Visualizaciones | |
---|---|
Mexico | 22 |
Lima | 21 |
Mountain View | 11 |
Bogotá | 8 |
Saint-ouen | 7 |
San Ramon | 7 |
Tlalpan | 7 |
Changsha | 6 |
Guadalajara | 6 |
Guangzhou | 6 |
Sin datos* | 267 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.