Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Characterization of thin polycrystalline silicon films deposited on glass by CVD | 117 | 39 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 |
|---|---|
| 7 | 13 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 33 |
| Holanda | 25 |
| Argentina | 6 |
| Suiza | 3 |
| China | 3 |
| Alemania | 3 |
| Canadá | 2 |
| Australia | 1 |
| India | 1 |
| Singapur | 1 |
| Sin datos* | 39 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ashburn | 9 |
| San Ramon | 7 |
| Buenos Aires | 4 |
| Cambridge | 4 |
| Columbus | 4 |
| Chengdu | 2 |
| Lanus | 2 |
| Seattle | 2 |
| Fairfield | 1 |
| Jaipur | 1 |
| Sin datos* | 81 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.