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dc.contributor.author Reyes, Benjamín Tomás
dc.contributor.author Paulina, Gustavo German
dc.contributor.author Sanchez, Raul
dc.contributor.author Mandolesi, Pablo Sergio
dc.contributor.author Hueda, Mario Rafael
dc.date.available 2019-02-06T17:18:53Z
dc.date.issued 2015-07
dc.identifier.citation Reyes, Benjamín Tomás; Paulina, Gustavo German; Sanchez, Raul; Mandolesi, Pablo Sergio; Hueda, Mario Rafael; A 2GS/s 6-bit CMOS time-interleaved ADC for analysis of mixed-signal calibration techniques; Springer; Analog Integrated Circuits And Signal Processing; 85; 1; 7-2015; 3-16
dc.identifier.issn 0925-1030
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11336/69511
dc.description.abstract A 2-GS/s 6-bit time interleaved (TI) successive approximation register (SAR) analog-to-digital converter (ADC) is designed and fabricated in a 0.13 lm CMOS process. The architecture uses 8 time-interleaved track-andhold amplifiers (THA) and 16 asynchronous SAR ADCs. The sampling frequency of the TI-ADC can be set from 200 MHz to more than 2 GHz. The chip includes a programmable delay cell array to adjust up to 25 % the sampling clock phase in each THA, and a multi-channel low voltage differential signaling interface capable of transmitting at full sampling rate (>12 Gb/s), without decimation, off-chip. These blocks make the fabricated ADC an excellent platform to test/evaluate mixed-signal calibration algorithms, which are of great interest for application in high-speed optical systems. Measurements of the fabricated ADC show a peak signal-to-noise-and-distortion ratio of 33.9 dB and a power consumption of 192 mW at 1.2 V.
dc.format application/pdf
dc.language.iso eng
dc.publisher Springer
dc.rights info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject Time-interleaved ADC
dc.subject Asynchronous SAR
dc.subject Optical receivers
dc.subject Calibration
dc.subject Fixed pattern noise
dc.subject Sampling time error
dc.subject.classification Ingeniería de Sistemas y Comunicaciones
dc.subject.classification Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title A 2GS/s 6-bit CMOS time-interleaved ADC for analysis of mixed-signal calibration techniques
dc.type info:eu-repo/semantics/article
dc.type info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated 2019-02-04T13:03:15Z
dc.identifier.eissn 1573-1979
dc.journal.volume 85
dc.journal.number 1
dc.journal.pagination 3-16
dc.journal.pais Estados Unidos
dc.description.fil Fil: Reyes, Benjamín Tomás. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Estudios Avanzados En Ingeniería y Tecnología. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias exactas Físicas y Naturales. Instituto de Estudios Avanzados En Ingeniería y Tecnología; Argentina
dc.description.fil Fil: Paulina, Gustavo German. Fundación Fulgor; Argentina
dc.description.fil Fil: Sanchez, Raul. Fundación Fulgor; Argentina
dc.description.fil Fil: Mandolesi, Pablo Sergio. Universidad Nacional del Sur; Argentina
dc.description.fil Fil: Hueda, Mario Rafael. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Estudios Avanzados En Ingeniería y Tecnología. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias exactas Físicas y Naturales. Instituto de Estudios Avanzados En Ingeniería y Tecnología; Argentina
dc.journal.title Analog Integrated Circuits And Signal Processing
dc.relation.alternativeid info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://dx.doi.org/10.1007/s10470-015-0578-z
dc.relation.alternativeid info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.springer.com/article/10.1007%2Fs10470-015-0578-z
dc.conicet.fuente individual


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