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Artículo

Optimization of K-shell intensity ratios in electron probe microanalysis

Castellano, Gustavo EugenioIcon ; Bonetto, Rita DomingaIcon ; Trincavelli, Jorge CarlosIcon ; Vasconcellos, M.; Campos, C.
Fecha de publicación: 03/2002
Editorial: John Wiley & Sons Ltd
Revista: X-ray Spectrometry
ISSN: 0049-8246
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Astronomía

Resumen

A method for refinement of atomic and experimental parameters was applied to the optimization of K-shell intensity ratios in electron probe microanalysis (EPMA). This kind of procedure, previously used in x-ray diffraction, is shown to be a powerful tool in EPMA. The method consists of minimizing the differences between an experimental x-ray spectrum and a function proposed to account for the bremsstrahlung and characteristic peaks from the corresponding sample, and also for detection artifacts. In this work, the method was used for the determination of transition rates. This procedure was applied to 14 elements with atomic numbers ranging from 20 to 42. The results obtained are in agreement with theoretical and experimental data for Kα/(Kβ + Kα) intensity ratios. In addition, Kα1, Kα2, Kβ1, and Kβ2 relative intensities were compared with experimental data, showing a similar behaviour. Copyright © 2002 John Wiley & Sons, Ltd.
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/62583
DOI: https://dx.doi.org/10.1002/xrs.566
URL: https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/xrs.566
Colecciones
Articulos(CINDECA)
Articulos de CENTRO DE INV EN CS.APLICADAS "DR.JORGE J.RONCO"
Articulos(IFEG)
Articulos de INST.DE FISICA ENRIQUE GAVIOLA
Citación
Castellano, Gustavo Eugenio; Bonetto, Rita Dominga; Trincavelli, Jorge Carlos; Vasconcellos, M.; Campos, C.; Optimization of K-shell intensity ratios in electron probe microanalysis; John Wiley & Sons Ltd; X-ray Spectrometry; 31; 2; 3-2002; 184-187
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