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dc.contributor.author
Schipani, Federico  
dc.contributor.author
Ponce, Miguel Adolfo  
dc.contributor.author
Joanni, Ednan  
dc.contributor.author
Williams, Federico Jose  
dc.contributor.author
Aldao, Celso Manuel  
dc.date.available
2016-04-13T13:22:55Z  
dc.date.issued
2014-11-18  
dc.identifier.citation
Schipani, Federico; Ponce, Miguel Adolfo; Joanni, Ednan; Williams, Federico Jose; Aldao, Celso Manuel; Study of the oxygen vacancies changes in SnO2 polycrystalline thick films using impedance and photoemission spectroscopies; American Institute Of Physics; Journal Of Applied Physics; 116; 19; 18-11-2014; 194502-194502  
dc.identifier.issn
0021-8979  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/5178  
dc.description.abstract
Changes in the concentration of oxygen vacancies within the grains of polycrystalline SnO2, due to different atmosphere exposures, were detected using impedance and photoemission spectroscopies. From measured capacitance values, variations of the potential barrier widths could be determined. It is shown that under the presence of an oxygen rich atmosphere, at relatively low temperature, the width of intergranular potential barriers increase to the point that grains become completely depleted of carriers. With subsequent exposure to vacuum, capacitance adopts a higher value, indicative of intergranular barriers and quasi-neutral regions at the center of the grains. X-ray and ultraviolet photoemission spectroscopy measurements showed that SnO2 samples treated in oxidizing or reducing environments have similar barrier heights and different work functions. Results are especially relevant in the study of mechanisms responsible for metal oxide gas sensing  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
American Institute Of Physics  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
Sensors  
dc.subject
Oxygen Vacancie Diffusion  
dc.subject
Capacitance  
dc.subject
Xps  
dc.subject.classification
Física de los Materiales Condensados  
dc.subject.classification
Ciencias Físicas  
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS  
dc.title
Study of the oxygen vacancies changes in SnO2 polycrystalline thick films using impedance and photoemission spectroscopies  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2016-05-06 15:52:43.262787-03  
dc.journal.volume
116  
dc.journal.number
19  
dc.journal.pagination
194502-194502  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.journal.ciudad
New York  
dc.description.fil
Fil: Schipani, Federico. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Joanni, Ednan. CTI Renato Archer. Sao Paulo; Brasil  
dc.description.fil
Fil: Williams, Federico Jose. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Aldao, Celso Manuel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina  
dc.journal.title
Journal Of Applied Physics  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://scitation.aip.org/content/aip/journal/jap/116/19/10.1063/1.4902150  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/1.4902150  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1063/1.4902150  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/0021-8979