Mild degradation processes in ZnObased varistors: the role of Zn vacancies

Ponce, Miguel Adolfo; Macchi, Carlos Eugenio; Schipani, Federico; Aldao, Celso Manuel; Somoza, Alberto Horacio

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dc.contributor.author	Ponce, Miguel Adolfo
dc.contributor.author	Macchi, Carlos Eugenio
dc.contributor.author	Schipani, Federico
dc.contributor.author	Aldao, Celso Manuel
dc.contributor.author	Somoza, Alberto Horacio
dc.date.available	2016-03-03T15:08:37Z
dc.date.issued	2015-02
dc.identifier.citation	Ponce, Miguel Adolfo; Macchi, Carlos Eugenio; Schipani, Federico; Aldao, Celso Manuel; Somoza, Alberto Horacio; Mild degradation processes in ZnObased varistors: the role of Zn vacancies; Taylor & Francis; Philosophical Magazine; 95; 7; 2-2015; 730-743
dc.identifier.issn	1478-6435
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11336/4591
dc.description.abstract	The effects of a degradation process on the structural and electrical properties of ZnO-based varistors induced by the application of dc bias voltage were analysed. Capacitance and resistance measurements were carried out to electrically characterize the polycrystalline semiconductor before and after different degrees of mild degradation. Vacancies’ changes in the varistors were studied with positron annihilation lifetime spectroscopy. Variations on the potential barrier height and effective doping concentration were determined by fitting the experimental data from impedance spectroscopy measurements. These results indicate two different stages in the degradation process consistent with vacancy-like concentration changes.
dc.format	application/pdf
dc.language.iso	eng
dc.publisher	Taylor & Francis
dc.rights	info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject	Zinc oxide varistors
dc.subject	Degradation
dc.subject	Impedance spectroscopy
dc.subject	Positron annihilation
dc.subject.classification	Física de los Materiales Condensados
dc.subject.classification	Ciencias Físicas
dc.subject.classification	CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
dc.title	Mild degradation processes in ZnObased varistors: the role of Zn vacancies
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.type	info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated	2016-03-30 10:35:44.97925-03
dc.journal.volume	95
dc.journal.number	7
dc.journal.pagination	730-743
dc.journal.pais	Reino Unido
dc.journal.ciudad	Londres
dc.description.fil	Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina
dc.description.fil	Fil: Macchi, Carlos Eugenio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Tandil. Centro de Investigaciones en Física e Ingeniería del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina
dc.description.fil	Fil: Schipani, Federico. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación en Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina
dc.description.fil	Fil: Aldao, Celso Manuel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina
dc.description.fil	Fil: Somoza, Alberto Horacio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas; Argentina
dc.journal.title	Philosophical Magazine
dc.relation.alternativeid	info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://dx.doi.org/10.1080/14786435.2015.1006291
dc.relation.alternativeid	info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/1478-6435
dc.relation.alternativeid	info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/14786435.2015.1006291

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