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Artículo

Mild degradation processes in ZnObased varistors: the role of Zn vacancies

Ponce, Miguel AdolfoIcon ; Macchi, Carlos EugenioIcon ; Schipani, Federico; Aldao, Celso ManuelIcon ; Somoza, Alberto HoracioIcon
Fecha de publicación: 02/2015
Editorial: Taylor & Francis
Revista: Philosophical Magazine
ISSN: 1478-6435
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Física de los Materiales Condensados

Resumen

The effects of a degradation process on the structural and electrical properties of ZnO-based varistors induced by the application of dc bias voltage were analysed. Capacitance and resistance measurements were carried out to electrically characterize the polycrystalline semiconductor before and after different degrees of mild degradation. Vacancies’ changes in the varistors were studied with positron annihilation lifetime spectroscopy. Variations on the potential barrier height and effective doping concentration were determined by fitting the experimental data from impedance spectroscopy measurements. These results indicate two different stages in the degradation process consistent with vacancy-like concentration changes.
Palabras clave: Zinc Oxide Varistors , Degradation , Impedance Spectroscopy , Positron Annihilation
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/4591
URL: http://dx.doi.org/10.1080/14786435.2015.1006291
URL: http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/14786435.2015.1006291
Colecciones
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Articulos(INTEMA)
Articulos de INST.DE INV.EN CIENCIA Y TECNOL.MATERIALES (I)
Citación
Ponce, Miguel Adolfo; Macchi, Carlos Eugenio; Schipani, Federico; Aldao, Celso Manuel; Somoza, Alberto Horacio; Mild degradation processes in ZnObased varistors: the role of Zn vacancies; Taylor & Francis; Philosophical Magazine; 95; 7; 2-2015; 730-743
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