Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Evolution of the gate current in 32 nm MOSFETs under irradiation | 161 | 15 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 |
|---|---|---|---|
| 10 | 13 | 8 | 7 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 56 |
| Holanda | 24 |
| Argentina | 16 |
| Alemania | 9 |
| Suiza | 7 |
| Francia | 4 |
| China | 3 |
| Rusia | 3 |
| Canadá | 1 |
| Chile | 1 |
| Sin datos* | 37 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Louisville | 12 |
| Ashburn | 7 |
| San Ramon | 7 |
| Columbus | 5 |
| Buenos Aires | 4 |
| Fairfield | 4 |
| Falls Church | 3 |
| Cambridge | 2 |
| Lanus | 2 |
| Ann Arbor | 1 |
| Sin datos* | 114 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.