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Artículo

Quantification and characterization of Si in Pinus Insignis Dougl by TXRF

Navarro Fernández, Henry LucianoIcon ; Bennun, Leonardo Daniel; Marcó, Lué M.
Fecha de publicación: 12/2014
Editorial: Springer
Revista: Applied Physics A: Materials Science and Processing
ISSN: 0947-8396
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Astronomía

Resumen

A simple quantification of silicon is described, in woods such as Pinus Insigne Dougl obtained from the 8th region of Bío-Bío, 37°15″ South-73°19″ West, Chile. The samples were prepared through fractional calcination, and the ashes were directly analyzed by total reflection X-ray fluorescence (TXRF) technique. The analysis of 16 samples that were calcined is presented. The samples were weighed on plastic reflectors in a microbalance with sensitivity of 0.1 µg. Later, the samples were irradiated in a TXRF PICOFOX spectrometer, for 350 and 700 s. To each sample, cobalt was added as an internal standard. Concentrations of silicon over the 1 % in each sample and the self-absorption effect on the quantification were observed, in masses higher than 100 μg.
Palabras clave: Txrf , Pinus Insigne Dougl
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/37113
DOI: http://dx.doi.org/10.1007/s00339-014-8915-0
URL: https://link.springer.com/article/10.1007%2Fs00339-014-8915-0
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Citación
Navarro Fernández, Henry Luciano; Bennun, Leonardo Daniel; Marcó, Lué M.; Quantification and characterization of Si in Pinus Insignis Dougl by TXRF; Springer; Applied Physics A: Materials Science and Processing; 118; 4; 12-2014; 1495-1500
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