Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| X ray photoelectron analysis of oxide-semiconductor interface after breakdown in Al2O3/InGaAs stacks | 71 | 173 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 19 |
| Holanda | 11 |
| Alemania | 8 |
| Argentina | 6 |
| Francia | 2 |
| Rusia | 2 |
| Sin datos* | 23 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ashburn | 8 |
| San Ramon | 7 |
| Berazategui | 2 |
| Fairfield | 2 |
| Sarmiento | 2 |
| Lanus | 1 |
| San Diego | 1 |
| Seattle | 1 |
| Villa Angelica | 1 |
| Sin datos* | 46 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.