Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
Título | Visualizaciones | Descargas |
---|---|---|
X ray photoelectron analysis of oxide-semiconductor interface after breakdown in Al2O3/InGaAs stacks | 71 | 173 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
Cantidad de accesos por país
Visualizaciones | |
---|---|
Estados Unidos | 19 |
Holanda | 11 |
Alemania | 8 |
Argentina | 6 |
Francia | 2 |
Rusia | 2 |
Sin datos* | 23 |
Cantidad de accesos por ciudad
Visualizaciones | |
---|---|
Ashburn | 8 |
San Ramon | 7 |
Berazategui | 2 |
Fairfield | 2 |
Sarmiento | 2 |
Lanus | 1 |
San Diego | 1 |
Seattle | 1 |
Villa Angelica | 1 |
Sin datos* | 46 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.