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dc.contributor.author
Botti, Ana Martina  
dc.contributor.author
Cervantes Vergara, Brenda A.  
dc.contributor.author
Chavez, Claudio R.  
dc.contributor.author
Chierchie, Fernando  
dc.contributor.author
Drlica Wagner, Alex  
dc.contributor.author
Estrada, Juan  
dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo  
dc.contributor.author
Holland, Stephen E.  
dc.contributor.author
Irigoyen Gimenez, Blas Junior  
dc.contributor.author
Lapi, Agustín Javier  
dc.contributor.author
Villalpando, Edgar Marrufo  
dc.contributor.author
Sofo Haro, Miguel Francisco  
dc.contributor.author
Tiffenberg, Javier Sebastian  
dc.contributor.author
Uemura, Sho  
dc.date.available
2025-02-04T13:36:23Z  
dc.date.issued
2024-06  
dc.identifier.citation
Botti, Ana Martina; Cervantes Vergara, Brenda A.; Chavez, Claudio R.; Chierchie, Fernando; Drlica Wagner, Alex; et al.; Single-Quantum Measurement With a Multiple-Amplifier Sensing Charge-Coupled Device; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions On Electron Devices; 71; 6; 6-2024; 3732-3738  
dc.identifier.issn
0018-9383  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/253554  
dc.description.abstract
A novel readout architecture that uses multiple nondestructive floating-gate amplifiers (FGAs) to achieve subelectron readout noise in a thick, fully depleted silicon detector is presented. This multiple-amplifier sensing charge-coupled device (MAS-CCD) can perform multiple independent charge measurements with each amplifier; measurements with multiple amplifiers can then be combined to further reduce the readout noise. This allows getting subelectron noise operation in less time compared with single-nondestructive-amplifier CCDs. The performance of this detector is demonstrated, emphasizing the ability to resolve individual quanta and to combine measurements across amplifiers to reduce readout noise. These characteristics make it a candidate technology for astronomical observations, quantum imaging, and low-energy interacting particles.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
Charge coupled devices  
dc.subject
Multiple-amplifier sensing CCD (MAS-CCD)  
dc.subject
Nondestructive readout sensor  
dc.subject
Single-electron resolution imager  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Single-Quantum Measurement With a Multiple-Amplifier Sensing Charge-Coupled Device  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2024-08-07T09:25:00Z  
dc.identifier.eissn
0018-9383  
dc.journal.volume
71  
dc.journal.number
6  
dc.journal.pagination
3732-3738  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.journal.ciudad
New York  
dc.description.fil
Fil: Botti, Ana Martina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Cervantes Vergara, Brenda A.. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos. Universidad Nacional Autónoma de México. Instituto de Ciencias Nucleares; México  
dc.description.fil
Fil: Chavez, Claudio R.. Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Chierchie, Fernando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Drlica Wagner, Alex. University of Chicago; Estados Unidos. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Estrada, Juan. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Holland, Stephen E.. Lawrence Berkeley National Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Irigoyen Gimenez, Blas Junior. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos. Universidad Nacional de Asunción; Paraguay  
dc.description.fil
Fil: Lapi, Agustín Javier. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Villalpando, Edgar Marrufo. University of Chicago; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Sofo Haro, Miguel Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola. Universidad Nacional de Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Tiffenberg, Javier Sebastian. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Uemura, Sho. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.journal.title
Ieee Transactions On Electron Devices  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/10521851/  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TED.2024.3392711