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dc.contributor.author
Brusa, R. S.
dc.contributor.author
Mariazzi, S.
dc.contributor.author
Ravelli, L.
dc.contributor.author
Mazzoldi, P.
dc.contributor.author
Mattei, G.
dc.contributor.author
Egger, W.
dc.contributor.author
Hugenschmidt, C.
dc.contributor.author
Löwe, B.
dc.contributor.author
Pikart, P.
dc.contributor.author
Macchi, Carlos Eugenio
dc.contributor.author
Somoza, Alberto Horacio
dc.date.available
2024-09-27T17:08:41Z
dc.date.issued
2010-10
dc.identifier.citation
Brusa, R. S.; Mariazzi, S.; Ravelli, L.; Mazzoldi, P.; Mattei, G.; et al.; Study of defects in implanted silica glass by depth profiling Positron Annihilation Spectroscopy; Elsevier Science; Beam Interactions with Materials and Atoms; 268; 19; 10-2010; 3186-3190
dc.identifier.issn
0168-583X
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/245152
dc.description.abstract
Positron Annihilation Spectroscopy (PAS) performed with continuous and pulsed positron beams allows to characterize the size of the intrinsic nano-voids in silica glass, their in depth modification after ion implantation and their decoration by implanted ions. Three complementary PAS techniques, lifetime spectroscopy (LS), Doppler broadening spectroscopy (DBS) and coincidence Doppler broadening spectroscopy (CDBS) will be illustrated by presenting, as a case study, measurements obtained on virgin and gold implanted silica glass.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier Science
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Silica glass
dc.subject
Positronium
dc.subject
Positrons
dc.subject
Ion implantation
dc.subject.classification
Física de los Materiales Condensados
dc.subject.classification
Ciencias Físicas
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
dc.title
Study of defects in implanted silica glass by depth profiling Positron Annihilation Spectroscopy
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2024-09-25T12:41:38Z
dc.journal.volume
268
dc.journal.number
19
dc.journal.pagination
3186-3190
dc.journal.pais
Reino Unido
dc.description.fil
Fil: Brusa, R. S.. Universita degli Studi di Trento; Italia
dc.description.fil
Fil: Mariazzi, S.. Universita degli Studi di Trento; Italia
dc.description.fil
Fil: Ravelli, L.. Universita degli Studi di Trento; Italia
dc.description.fil
Fil: Mazzoldi, P.. Università di Padova; Italia
dc.description.fil
Fil: Mattei, G.. Università di Padova; Italia
dc.description.fil
Fil: Egger, W.. Universität der Bunderswehr München; Alemania
dc.description.fil
Fil: Hugenschmidt, C.. Technische Universitat München; Alemania
dc.description.fil
Fil: Löwe, B.. Technische Universitat München; Alemania
dc.description.fil
Fil: Pikart, P.. Technische Universitat München; Alemania
dc.description.fil
Fil: Macchi, Carlos Eugenio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Tandil; Argentina
dc.description.fil
Fil: Somoza, Alberto Horacio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Tandil; Argentina. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina
dc.journal.title
Beam Interactions with Materials and Atoms
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2010.05.084
Archivos asociados
Tamaño:
716.0Kb
Formato:
PDF