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Evento

Static and Dynamic Characterization of 3.3-kV SiC MOSFET Modules With and Without External Anti- Parallel SiC JBS Diodes

Rahouma, Ahmed; Oggier, German GustavoIcon ; Balda, Juan Carlos; Kashyap, Avinash
Tipo del evento: Otro
Nombre del evento: 2022 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE 2022)
Fecha del evento: 09/10/2022
Institución Organizadora: Institute of Electrical and Electronics Engineers;
Título del Libro: 2022 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE 2022)
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
ISBN: 978-1-7281-9387-8
Idioma: Inglés
Clasificación temática:
Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Resumen

The innovation pace of modern and future power electronic systems such as energy storage systems and D-FACTs is driving the utilization of H.V. SiC MOSFETs. This paperpresents the static and dynamic characterization of two configurations of a 3.3-kV SiC MOSFET half-bridge power module. The freewheeling diode in the first configuration is the body diode of the MOSFET. In contrast, the second configuration consists of both the body diode and an external anti-parallel SiC junction barrier Schottky (JBS) diode per switching position. The static and dynamic characteristics of these two configurations are investigated and compared at different junction temperatures. Unlike other evaluations, the comparison shows that the second configuration increased switching losses, switching times, and drain current overshoots. However, it decreased drain-to-source voltage overshoot and slew rates compared with the first configuration.
Palabras clave: DOUBLE PULSE TEST , MEDIUM VOLTAGE , SIC JBS DIODE AND SIC MOSFET , SWITCHING LOSSES
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Tamaño: 991.9Kb
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info:eu-repo/semantics/restrictedAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/221867
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/9947544
DOI: http://dx.doi.org/10.1109/ECCE50734.2022.9947544
Colecciones
Eventos (IITEMA)
Eventos de INSTITUTO DE INVESTIGACIONES EN TECNOLOGIAS ENERGETICAS Y MATERIALES AVANZADOS
Citación
Static and Dynamic Characterization of 3.3-kV SiC MOSFET Modules With and Without External Anti- Parallel SiC JBS Diodes; 2022 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE 2022); Estados Unidos; 2022; 1-5
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