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dc.contributor.author
Montilla, Delfina
dc.contributor.author
González, Martín Germán
dc.contributor.author
Rey Vega, Leonardo Javier
dc.date.available
2023-12-06T14:18:15Z
dc.date.issued
2023-06
dc.identifier.citation
Montilla, Delfina; González, Martín Germán; Rey Vega, Leonardo Javier; Red adversaria generativa aplicada a la eliminación de ruido y artefactos en sinogramas de tomografía optoacústica; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Elektron; 7; 1; 6-2023; 7-18
dc.identifier.issn
2525-0159
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/219472
dc.description.abstract
El objetivo de este trabajo es el estudio de un método de pre-procesamiento de los datos medidos por un tomógrafo optoacústico bidimensional para reducir o eliminar los artefactos introducidos por la escasa cantidad de detectores en el sistema experimental y el acotado ancho de banda de estos. Para esta tarea, se utilizó una red neuronal profunda generativa adversaria y se comparó su rendimiento con una red neuronal de referencia U-Net. En la mayoría de los casos de testeo realizados, se encontró una leve mejora aplicando la red propuesta al medir la correlación de Pearson y la relación señal a ruido piso entre la imagen reconstruida producto de los datos procesados por el modelo y la imagen de alta resolución de referencia.
dc.description.abstract
The goal of this work is to study a preprocessing method for the data measured by a two-dimensional optoacoustic tomograph in order to reduce or eliminate artifacts introduced by the low number of detectors in the experimental setup and their limited bandwidth. A generative adversarial deep neural network was used to accomplish this task and its performance was compared with a reference U-Net neural network. In most of the test cases carried out, a slight improvement was found by applying the proposed network when measuring the Pearson correlation and the peak signal noise ratio between the reconstructed image product of the data processed by the model and the high-resolution reference image.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
spa
dc.publisher
Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.subject
APRENDIZAJE PROFUNDO
dc.subject
TOMOGRAFÍA OPTOACÚSTICA
dc.subject
GAN
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.subject.classification
Ciencias de la Computación
dc.subject.classification
Ciencias de la Computación e Información
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
dc.subject.classification
Óptica
dc.subject.classification
Ciencias Físicas
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
dc.title
Red adversaria generativa aplicada a la eliminación de ruido y artefactos en sinogramas de tomografía optoacústica
dc.title
Generative Adversarial Network Applied to the Elimination of Noise and Artifacts in Optoacoustic Tomography Sinograms
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2023-12-05T15:01:32Z
dc.journal.volume
7
dc.journal.number
1
dc.journal.pagination
7-18
dc.journal.pais
Argentina
dc.journal.ciudad
Buenos Aires
dc.description.fil
Fil: Montilla, Delfina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.description.fil
Fil: González, Martín Germán. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Rey Vega, Leonardo Javier. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.journal.title
Elektron
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://elektron.fi.uba.ar/index.php/elektron/article/view/180
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.37537/rev.elektron.7.1.180.2023
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