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dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo  
dc.contributor.author
Chierchie, Fernando  
dc.contributor.author
Stefanazzi, Leandro  
dc.contributor.author
Paolini, Eduardo Emilio  
dc.contributor.author
Sofo Haro, Miguel Francisco  
dc.contributor.author
Cancelo, Gustavo  
dc.contributor.author
Tiffenberg, Javier Sebastian  
dc.contributor.author
Estrada, Juan  
dc.date.available
2023-10-17T13:49:50Z  
dc.date.issued
2020-03  
dc.identifier.citation
Fernández Moroni, Guillermo; Chierchie, Fernando; Stefanazzi, Leandro; Paolini, Eduardo Emilio; Sofo Haro, Miguel Francisco; et al.; Interleaved Readout of Charge-Coupled Devices (CCDs) for Correlated Noise Reduction; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement; 69; 10; 3-2020; 7580-7587  
dc.identifier.issn
0018-9456  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/215164  
dc.description.abstract
This article proposes a new technique to reduce the readout noise in charge-coupled devices (CCDs). The objective is to minimize the common noise between the channels. This noise is either induced by the readout electronics or by the environment, and it could be present in small (single CCD and a few channels) or large systems (dozens of CCDs and hundreds of channels). By interleaving the video signals, we show that it is possible to reduce the readout noise by around 50% without sacrificing output channels at the expense of a moderate increase of the readout time, which is less compared with other techniques. Up until now, similar approaches have used half of the output stages only for noise measurement doubling the total readout time of the sensor. Simulations and experimental results are presented to validate the proposed approach. Moreover, the technique is measured using a Skipper CCD, and its operation is validated together with the ability of the Skipper sensor for nondestructively reading, several times, the same pixel charge. With the combination of both techniques, we achieve deep subelectron readout noise levels (0.1 e-).  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
CHARGE-COUPLED DEVICE (CCD)  
dc.subject
CORRELATED NOISE  
dc.subject
INTERLEAVED READOUT  
dc.subject
NOISE REDUCTION  
dc.subject
READOUT  
dc.subject
SKIPPER CCD  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Interleaved Readout of Charge-Coupled Devices (CCDs) for Correlated Noise Reduction  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2023-10-17T09:50:21Z  
dc.journal.volume
69  
dc.journal.number
10  
dc.journal.pagination
7580-7587  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.journal.ciudad
New York  
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Chierchie, Fernando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Stefanazzi, Leandro. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Paolini, Eduardo Emilio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Sofo Haro, Miguel Francisco. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Cancelo, Gustavo. No especifíca;  
dc.description.fil
Fil: Tiffenberg, Javier Sebastian. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Estrada, Juan. No especifíca;  
dc.journal.title
Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/9036987/  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2020.2980461