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dc.contributor.author
Figliolia Tomás
dc.contributor.author
Julian, Pedro Marcelo
dc.contributor.author
Tognetti, Gaspar
dc.contributor.author
Andreou, Andreas G.
dc.date.available
2023-08-28T10:09:48Z
dc.date.issued
2016
dc.identifier.citation
A true random number generator using RTN noise and a sigma delta converter; IEEE International Symposium on Circuits and Systems; Montreall; Canadá; 2016; 1-4
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/209443
dc.description.abstract
The design of a true Bernoulli RandomNumber Generator (RNG) source with a true probabilityp = 0:5 is a challenging problem. In this work, we presenta novel design of a True RNG (TRNG) that achieves atrue E(p(n)) = 0:5. The architecture is based on theperturbation of a Sigma-Delta modulator using randomtelegraph noise (RTN).
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
random generator
dc.subject
sigma-delta
dc.subject
True RNG
dc.subject
noise
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
A true random number generator using RTN noise and a sigma delta converter
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.date.updated
2022-04-21T17:13:25Z
dc.journal.pagination
1-4
dc.journal.pais
Estados Unidos
dc.journal.ciudad
New Jersey
dc.description.fil
Fil: Figliolia Tomás. University Johns Hopkins; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Julian, Pedro Marcelo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Tognetti, Gaspar. University Johns Hopkins; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Andreou, Andreas G.. University Johns Hopkins; Estados Unidos
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/7527159
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://doi.org/10.1109/ISCAS.2016.7527159
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.coverage
Internacional
dc.type.subtype
Simposio
dc.description.nombreEvento
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
dc.date.evento
2016-05-22
dc.description.ciudadEvento
Montreall
dc.description.paisEvento
Canadá
dc.type.publicacion
Book
dc.description.institucionOrganizadora
Institute of Electrical and Electronics Engineers
dc.source.libro
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
dc.date.eventoHasta
2016-05-25
dc.type
Simposio
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