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Stopping power spectra of 4He ions in Zn, Cd and Pb-based semiconductors: A theoretical study for Rutherford Backscattering Spectroscopy analysis of metal chalcogenide thin films thickness | 19 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
noviembre 2024 | diciembre 2024 |
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7 | 8 |
Cantidad de accesos por país
Visualizaciones | |
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Estados Unidos | 14 |
Argentina | 1 |
Canadá | 1 |
Suiza | 1 |
Finlandia | 1 |
Irlanda | 1 |
Cantidad de accesos por ciudad
Visualizaciones | |
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Columbus | 4 |
San Ramon | 2 |
Ashburn | 1 |
Boydton | 1 |
Dublin | 1 |
Helsinki | 1 |
Lanus | 1 |
Sin datos* | 8 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.