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Artículo

Linear bounded potential model for semiconductor band bending

Villavicencio, Facundo Lautaro; Ferreyra, J. M.; Bridoux, GermanIcon ; Villafuerte, Manuel JoseIcon
Fecha de publicación: 03/2022
Editorial: IOP Publishing
Revista: Semiconductor Science And Technology
ISSN: 0268-1242
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Física de los Materiales Condensados

Resumen

We propose a simple but unexplored model for the semiconductor band bending with the aim to obtain a relatively simple expression to calculate the energy spectrum for the confined levels and the analytical expressions for wave-functions. This model consists of a linear potential but it is bounded or trimmed in energy unlike the well known wedge potential (WP) model. We present exact solutions for this potential in the frame of the effective mass approximation and they are valid for electron or hole confinement potential. This model provides a more adequate physical scenario than the WP since it takes into account the charge balance involved in the band bending potential. These results allow to treat confined potential problems as in the case of a two-dimensional electron gas in a simplified way. We discuss the application of this approximation to the recombination time of electrons an holes and for the Franz-Keldysh effect.
Palabras clave: BAND BENDING , SEMICONDUCTORS , SURFACE
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info:eu-repo/semantics/restrictedAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/208530
URL: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ac4a20
DOI: http://dx.doi.org/10.1088/1361-6641/ac4a20
Colecciones
Articulos (INFINOA)
Articulos de INSTITUTO DE FISICA DEL NOROESTE ARGENTINO
Citación
Villavicencio, Facundo Lautaro; Ferreyra, J. M.; Bridoux, German; Villafuerte, Manuel Jose; Linear bounded potential model for semiconductor band bending; IOP Publishing; Semiconductor Science And Technology; 37; 3; 3-2022; 1-8
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