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Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells 40 17

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Estados Unidos 17
Holanda 10
Argentina 6
Francia 5
Colombia 1
Macao 1

Cantidad de accesos por ciudad

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Ashburn 4
Buenos Aires 4
Fairfield 4
Gif-sur-yvette 3
Ann Arbor 2
Boardman 2
Lanus 2
Louisville 2
San Ramon 2
Utrecht 1
Sin datos* 14

*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.