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Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells 70 27

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Francia 6
Chile 1
Colombia 1
Macao 1

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Ashburn 7
Columbus 5
Buenos Aires 4
Fairfield 4
Gif-sur-yvette 3
Ann Arbor 2
Boardman 2
Lanus 2
Louisville 2
San Ramon 2
Sin datos* 37

*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.