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Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells 246 83

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Chile 2
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Boydton 23
Ashburn 10
Columbus 8
Buenos Aires 5
Fairfield 4
Gif-sur-yvette 3
Ann Arbor 2
Beijing 2
Boardman 2
Crespo 2
Sin datos* 185

*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.