Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Nanoscale structural characterization of manganite thin films integrated to silicon correlated with their magnetic and electric properties | 89 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 |
|---|---|
| 7 | 18 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 46 |
| Argentina | 19 |
| Holanda | 15 |
| China | 3 |
| Suiza | 2 |
| Canadá | 1 |
| Sin datos* | 3 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Buenos Aires | 10 |
| Ashburn | 9 |
| Louisville | 6 |
| Fairfield | 4 |
| San Ramon | 4 |
| Columbus | 2 |
| Federal | 2 |
| Hangzhou | 2 |
| Lanus | 2 |
| Monte Grande | 2 |
| Sin datos* | 46 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.