Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Ab-initio calculations and ellipsometry measurements of the optical properties of the layered semiconductor In4Se3 | 182 | 56 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 |
|---|---|
| 6 | 9 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 55 |
| Holanda | 26 |
| Alemania | 8 |
| Argentina | 6 |
| Suiza | 4 |
| Brasil | 2 |
| España | 2 |
| Suecia | 2 |
| China | 1 |
| Finlandia | 1 |
| Sin datos* | 75 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ashburn | 16 |
| Louisville | 8 |
| Fairfield | 6 |
| San Ramon | 6 |
| San Diego | 4 |
| Cambridge | 3 |
| Columbus | 3 |
| Falls Church | 2 |
| Pamplona | 2 |
| Rio De Janeiro | 2 |
| Sin datos* | 130 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.