Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| Ab-initio calculations and ellipsometry measurements of the optical properties of the layered semiconductor In4Se3 | 275 | 129 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 | marzo 2025 | abril 2025 | mayo 2025 | junio 2025 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 11 | 8 | 14 | 22 | 30 | 8 | 9 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 118 |
| Holanda | 27 |
| Suiza | 16 |
| Alemania | 9 |
| Argentina | 7 |
| Francia | 7 |
| Brasil | 3 |
| China | 3 |
| Reino Unido | 3 |
| España | 2 |
| Sin datos* | 80 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Boydton | 30 |
| Ashburn | 20 |
| Louisville | 8 |
| Columbus | 7 |
| Fairfield | 6 |
| San Ramon | 6 |
| Paris | 4 |
| San Diego | 4 |
| Cambridge | 3 |
| Falls Church | 2 |
| Sin datos* | 185 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.