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Artículo

Evaluation of structural similarity quality measures for wrapped recovered phase maps in optical metrology

Etchepareborda, Pablo GonzaloIcon ; Bianchetti, Arturo AbelIcon ; Vadnjal, Ana LauraIcon ; Federico, Roque Alejandro
Fecha de publicación: 05/2019
Editorial: Elsevier
Revista: Optics And Lasers In Engineering
ISSN: 0143-8166
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Resumen

We propose and evaluate structural similarity quality measures for wrapped recovered phase maps in the range of [0, 2π). The proposed measures adapt the mathematical description of a structural similarity index employed in intensity images by using circular statistics, which are suitable for analyzing the wrapped phase images obtained in the application of optical metrology techniques. The developed framework avoids 2D unwrapping pre-processing techniques and obtains a quality measure that properly evaluates visual distortions that occur in the proximities of phase discontinuities that do not correspond to significant phase errors. Numerical experiments based on the assessment of simulated wrapped images indicate the suitability of the proposed quality measure when a reference phase map is introduced.
Palabras clave: CIRCULAR STATISTICS , INTERFEROMETRY , PHASE MAP QUALITY , SPECKLE METROLOGY , STRUCTURAL SIMILARITY , WRAPPED PHASE
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info:eu-repo/semantics/restrictedAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/129468
URL: https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0143816618313988
DOI: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2019.01.004
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Citación
Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Bianchetti, Arturo Abel; Vadnjal, Ana Laura; Federico, Roque Alejandro; Evaluation of structural similarity quality measures for wrapped recovered phase maps in optical metrology; Elsevier; Optics And Lasers In Engineering; 116; 5-2019; 103-110
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