Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| A review on dielectric breakdown in thin dielectrics: Silicon Dioxide, High-k, and Layered Dielectrics | 394 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| julio 2025 | agosto 2025 | septiembre 2025 | octubre 2025 | noviembre 2025 | diciembre 2025 | enero 2026 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 18 | 41 | 9 | 22 | 27 | 25 | 8 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 258 |
| Suiza | 23 |
| Holanda | 15 |
| Alemania | 14 |
| Japón | 10 |
| Finlandia | 9 |
| Canadá | 8 |
| Singapur | 8 |
| Brasil | 7 |
| Rusia | 7 |
| Sin datos* | 35 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Boydton | 74 |
| Ashburn | 28 |
| Columbus | 9 |
| Fairfield | 9 |
| Helsinki | 9 |
| Council Bluffs | 7 |
| San Ramon | 6 |
| Seattle | 6 |
| Tokyo | 6 |
| Moscow | 4 |
| Sin datos* | 236 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.