Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| A review on dielectric breakdown in thin dielectrics: Silicon Dioxide, High-k, and Layered Dielectrics | 150 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| noviembre 2024 | diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 |
|---|---|---|---|
| 19 | 17 | 31 | 2 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 94 |
| Holanda | 15 |
| Suiza | 10 |
| Rusia | 6 |
| Finlandia | 4 |
| Japón | 4 |
| Argentina | 3 |
| Alemania | 3 |
| Francia | 3 |
| Canadá | 1 |
| Sin datos* | 7 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Boydton | 23 |
| Ashburn | 20 |
| Fairfield | 9 |
| San Ramon | 6 |
| Columbus | 5 |
| Helsinki | 4 |
| Moscow | 4 |
| Cambridge | 3 |
| Chicago | 3 |
| San Diego | 3 |
| Sin datos* | 70 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.