Estadísticas de visualización y descarga
Número total de visitas
desde el momento de su depósito en el Repositorio CONICET Digital
| Título | Visualizaciones | Descargas |
|---|---|---|
| A review on dielectric breakdown in thin dielectrics: Silicon Dioxide, High-k, and Layered Dielectrics | 367 | 0 |
Visitas al mes
de los últimos 6 meses
| junio 2025 | julio 2025 | agosto 2025 | septiembre 2025 | octubre 2025 | noviembre 2025 | diciembre 2025 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 17 | 18 | 41 | 9 | 22 | 27 | 6 |
Cantidad de accesos por país
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 244 |
| Suiza | 23 |
| Holanda | 15 |
| Alemania | 12 |
| Finlandia | 9 |
| Singapur | 8 |
| Brasil | 7 |
| Japón | 7 |
| Rusia | 7 |
| Argentina | 6 |
| Sin datos* | 29 |
Cantidad de accesos por ciudad
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Boydton | 74 |
| Ashburn | 27 |
| Columbus | 9 |
| Fairfield | 9 |
| Helsinki | 9 |
| San Ramon | 6 |
| Seattle | 6 |
| Council Bluffs | 5 |
| Moscow | 4 |
| Paris | 4 |
| Sin datos* | 214 |
*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.