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dc.contributor.author
Fontana, Andrés
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dc.contributor.author
Pazos, Sebastián Matías
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dc.contributor.author
Aguirre, Fernando Leonel
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dc.contributor.author
Vega, Nahuel Agustín
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dc.contributor.author
Muller, Nahuel
dc.contributor.author
De la Fourniere, Emmanuel
dc.contributor.author
Silveira, Fernando
dc.contributor.author
Debray, Mario Ernesto
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dc.contributor.author
Palumbo, Félix Roberto Mario
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dc.date.available
2021-01-07T14:15:23Z
dc.date.issued
2019-03
dc.identifier.citation
Fontana, Andrés; Pazos, Sebastián Matías; Aguirre, Fernando Leonel; Vega, Nahuel Agustín; Muller, Nahuel; et al.; Pulse Quenching and Charge-Sharing Effects on Heavy-Ion Microbeam Induced ASET in a Full-Custom CMOS OpAmp; Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.; IEEE Transactions on Nuclear Science; 66; 7; 3-2019; 1473-1482
dc.identifier.issn
0018-9499
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/121724
dc.description.abstract
In this work, charge sharing effects on Analog Single Event Transients are experimentally observed in a fully-custom designed, 180nm CMOS Operational Amplifier by means of a heavy-ion microbeam. Sensitive nodes of the differential stage showed bipolar output transients that cannot be explained by single node collection for the closed loop characteristics of the circuit under test. Layout of these transistors are consistent with charge sharing effects due to deposited charge diffusion. Implementation of linear modeling and simulations of multiple node collection between paired transistors of the input stage showed great coincidence with the obtained experimental waveforms, shaped as bipolar, quenched pulses. These effects are also observed due to dummy transistors placed in the layout. A simple parametrization at the simulation level is proposed to reproduce the observed experimental waveforms. Results indicate that charge-sharing effects should be taken into account during simulation-based sensitivity evaluation of analog circuits, as pulse quenching can alter the obtained results, and linear modeling is a simple approach to emulate simultaneous charge collection in multiple nodes by applying superposition principles, with aims of hardening a design.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Analog Single Event Transients (Aset)
dc.subject
Radiation effects
dc.subject
Microbeam
dc.subject
Pulse Quenching
dc.subject
Heavy Ion
dc.subject
Charge Sharing
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
Pulse Quenching and Charge-Sharing Effects on Heavy-Ion Microbeam Induced ASET in a Full-Custom CMOS OpAmp
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2020-12-21T17:22:16Z
dc.identifier.eissn
1558-1578
dc.journal.volume
66
dc.journal.number
7
dc.journal.pagination
1473-1482
dc.journal.pais
Estados Unidos
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dc.description.fil
Fil: Fontana, Andrés. Universidad Tecnológica Nacional; Argentina
dc.description.fil
Fil: Pazos, Sebastián Matías. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia de Área Investigaciones y Aplicaciones No Nucleares. Gerencia Física (CAC). Departamento de Física de la Materia Condensada; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Aguirre, Fernando Leonel. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia de Área Investigaciones y Aplicaciones No Nucleares. Gerencia Física (CAC). Departamento de Física de la Materia Condensada; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Vega, Nahuel Agustín. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Muller, Nahuel. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.fil
Fil: De la Fourniere, Emmanuel. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Silveira, Fernando. Universidad de la Republica. Facultad de Ingeniería; Uruguay
dc.description.fil
Fil: Debray, Mario Ernesto. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Palumbo, Félix Roberto Mario. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia de Área Investigaciones y Aplicaciones No Nucleares. Gerencia Física (CAC). Departamento de Física de la Materia Condensada; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.journal.title
IEEE Transactions on Nuclear Science
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/8675987/
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2019.2908174
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