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dc.contributor.author
Alcalde Bessia, Fabricio Pablo  
dc.contributor.author
Pérez, Martín  
dc.contributor.author
Sofo Haro, Miguel Francisco  
dc.contributor.author
Sidelnik, Iván Pedro  
dc.contributor.author
Blostein, Juan Jeronimo  
dc.contributor.author
Suarez, Sergio Gabriel  
dc.contributor.author
Pérez, Pablo Daniel  
dc.contributor.author
Gomez Berisso, Mariano  
dc.contributor.author
Lipovetzky, José  
dc.date.available
2020-04-08T21:11:48Z  
dc.date.issued
2018-10  
dc.identifier.citation
Alcalde Bessia, Fabricio Pablo; Pérez, Martín; Sofo Haro, Miguel Francisco; Sidelnik, Iván Pedro; Blostein, Juan Jeronimo; et al.; Displacement Damage in CMOS Image Sensors after Thermal Neutron Irradiation; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions on Nuclear Science; 65; 11; 10-2018; 2793-2801  
dc.identifier.issn
0018-9499  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/102309  
dc.description.abstract
In this work CMOS image sensors were exposed to thermal neutrons observing an increase in the dark signal of many pixels. The effect was found to be similar to the damage caused by alpha particles irradiation. Rutherford backscattering spectroscopy and SIMNRA simulation were used to confirm that the sensors contain Boron in the insulation layers. The damage produced by thermal neutrons is explained as displacement damage caused by alpha particles and Lithium-7 ions in the Silicon active volume of the sensors after Boron-10 thermal neutron capture.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
ACTIVE PIXEL SENSORS  
dc.subject
ALPHA PARTICLES  
dc.subject
BOROPHOSPHOSILICATE-GLASS (BPSG)  
dc.subject
CMOS IMAGE SENSORS  
dc.subject
CMOS TECHNOLOGY  
dc.subject
IONIZING RADIATION  
dc.subject
NEUTRON RADIATION EFFECTS  
dc.subject
THERMAL NEUTRON  
dc.subject
X-RAYS  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Displacement Damage in CMOS Image Sensors after Thermal Neutron Irradiation  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2019-10-15T17:54:10Z  
dc.journal.volume
65  
dc.journal.number
11  
dc.journal.pagination
2793-2801  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Alcalde Bessia, Fabricio Pablo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Pérez, Martín. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Sofo Haro, Miguel Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina  
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Fil: Sidelnik, Iván Pedro. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
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Fil: Blostein, Juan Jeronimo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Suarez, Sergio Gabriel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Pérez, Pablo Daniel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Gomez Berisso, Mariano. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Lipovetzky, José. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina  
dc.journal.title
Ieee Transactions on Nuclear Science  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/8482500/  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2874191