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Simplified method for the evaluation of the reverse dark current-voltage characteristic of thin film devices 226 50

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Francia 6
Rusia 4
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China 2
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Cantidad de accesos por ciudad

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Boydton 26
Ashburn 17
Buenos Aires 6
San Ramon 6
Columbus 3
Fairfield 3
Rio De Janeiro 3
Cambridge 2
Cancún 2
Lanus 2
Sin datos* 156

*Sin datos: En origen no se informa País o Ciudad.