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dc.contributor.author
Carugati, Ignacio
dc.contributor.author
Orallo, Carlos Martin
dc.contributor.author
Donato, Patricio Gabriel
dc.contributor.author
Maestri, Sebastian Oscar
dc.contributor.author
Strack, Jorge Luis
dc.contributor.author
Carrica, Daniel Oscar
dc.date.available
2019-12-09T21:42:59Z
dc.date.issued
2016-08
dc.identifier.citation
Carugati, Ignacio; Orallo, Carlos Martin; Donato, Patricio Gabriel; Maestri, Sebastian Oscar; Strack, Jorge Luis; et al.; Three-Phase Harmonic and Sequence Components Measurement Method Based on mSDFT and Variable Sampling Period Technique; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement; 65; 8; 8-2016; 1761-1772
dc.identifier.issn
0018-9456
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/91814
dc.description.abstract
This paper presents a three-phase harmonic and sequence components measurement method based on modulated sliding discrete Fourier transform (mSDFT) and a variable sampling period technique. The proposal allows measuring the harmonic components of a three-phase signal and computes the corresponding imbalance by estimating the instantaneous symmetrical components. In addition, an adaptive variable sampling period is used to obtain a sampling frequency multiple of the main frequency. By doing so, DFT typical errors, known as spectral leakage and picket-fence effect, are mitigated in steady state. The proposal is tested with different disturbances by simulation and experimental results. Some results obtained with a power quality monitor implemented with the proposed system are also presented. The high rejection to distortion in the electrical network, frequency adaptability, flexibility, and good performance in power quality monitor application render the proposed method a promising alternative for signal processing from the mains.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
DISCRETE FOURIER TRANSFORM (DFT)
dc.subject
GRID SYNCHRONIZATION
dc.subject
SEQUENCE COMPONENT DETECTOR
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Three-Phase Harmonic and Sequence Components Measurement Method Based on mSDFT and Variable Sampling Period Technique
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2019-12-05T18:05:12Z
dc.journal.volume
65
dc.journal.number
8
dc.journal.pagination
1761-1772
dc.journal.pais
Estados Unidos
dc.journal.ciudad
Nueva York
dc.description.fil
Fil: Carugati, Ignacio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Orallo, Carlos Martin. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Donato, Patricio Gabriel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Maestri, Sebastian Oscar. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Strack, Jorge Luis. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Carrica, Daniel Oscar. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.journal.title
Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://ieeexplore.ieee.org/document/7458839/
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2016.2552679
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