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dc.contributor.author
Airabella, Andres Miguel
dc.contributor.author
Oggier, German Gustavo
dc.contributor.author
Piris Botalla, Laureano Enrique
dc.contributor.author
Falcón, Cristian Roberto
dc.contributor.author
García, Guillermo O.
dc.date.available
2019-05-07T17:23:11Z
dc.date.issued
2016-05
dc.identifier.citation
Airabella, Andres Miguel; Oggier, German Gustavo; Piris Botalla, Laureano Enrique; Falcón, Cristian Roberto; García, Guillermo O.; Semi-conductors faults analysis in dual active bridge DC-DC converter; Institution of Engineering and Technology; IET Power Electronics; 9; 6; 5-2016; 1103-1110
dc.identifier.issn
1755-4535
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/75774
dc.description.abstract
Failures in power semi-conductors of a dual active bridge converter are characterised considering open-circuit faults in diodes and transistors. A detailed electrical waveforms analysis to identify the main symptoms of the converter during normal and failure conditions is presented. Based on this analysis, a fault diagnosis strategy is proposed which is able to identify failures either in a diode or in a transistor as well as its location in the circuit. Finally, simulation and experimental results, using a prototype of 1 KW, are presented in this study to demonstrate the practical feasibility of the theoretical proposal.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institution of Engineering and Technology
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.subject
Fault Diagnosis
dc.subject
Bridge Circuits
dc.subject
Dc-Dc Power Convertors
dc.subject.classification
Ingeniería de Sistemas y Comunicaciones
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Semi-conductors faults analysis in dual active bridge DC-DC converter
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2019-03-21T14:10:06Z
dc.identifier.eissn
1755-4543
dc.journal.volume
9
dc.journal.number
6
dc.journal.pagination
1103-1110
dc.journal.pais
Reino Unido
dc.description.fil
Fil: Airabella, Andres Miguel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba; Argentina. Universidad Nacional de San Luis. Facultad de Ciencias Físico- Matemáticas y Naturales; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
dc.description.fil
Fil: Oggier, German Gustavo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
dc.description.fil
Fil: Piris Botalla, Laureano Enrique. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Patagonia Norte. Instituto de Investigación y Desarrollo en Ingeniería de Procesos, Biotecnología y Energías Alternativas. Universidad Nacional del Comahue. Instituto de Investigación y Desarrollo en Ingeniería de Procesos, Biotecnología y Energías Alternativas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Falcón, Cristian Roberto. Universidad Nacional de San Luis; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Córdoba. Centro de Investigaciones en Bioquímica Clínica e Inmunología; Argentina
dc.description.fil
Fil: García, Guillermo O.. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
dc.journal.title
IET Power Electronics
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://ieeexplore.ieee.org/document/7470339
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1049/iet-pel.2015.0299
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