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dc.contributor.author
Orzi, Daniel Jesús Omar
dc.contributor.author
Alvira, Fernando Carlos
dc.contributor.author
Bilmes, Gabriel Mario
dc.date.available
2018-10-17T17:48:00Z
dc.date.issued
2013-03
dc.identifier.citation
Orzi, Daniel Jesús Omar; Alvira, Fernando Carlos; Bilmes, Gabriel Mario; Determination of femtosecond ablation thresholds by using laser ablation induced photoacoustics (LAIP); Springer; Applied Physics A: Materials Science and Processing; 110; 3; 3-2013; 735-739
dc.identifier.issn
0947-8396
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/62587
dc.description.abstract
Femtosecond laser material processing as micromachining and nanoparticles fabrication require a careful control of the fluences deposited on the samples. In many cases, best results are obtained by using fluences slightly above the Laser Ablation Threshold (LAT), therefore its accurate determination is an important requirement. LAT can be obtained by measuring the intensity of the acoustic signal generated during the ablation process as a function of the laser fluence. In this work femtosecond laser ablation thresholds of commercially polished stainless steel plates, white high impact polystyrene, frosted glass, antique rag papers and silicon oxynitride thin films were determined by using laser ablation induced photoacoustics (LAIP). Results were compared with similar data previously obtained by using a nanosecond Nd:YAG laser. © Springer-Verlag 2012.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Springer
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Libs
dc.subject
Laser Ablation
dc.subject
Ablation Threshold
dc.subject
Laser Ablation Induced Photoacoustic (Laip)
dc.title
Determination of femtosecond ablation thresholds by using laser ablation induced photoacoustics (LAIP)
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2018-10-16T18:29:01Z
dc.journal.volume
110
dc.journal.number
3
dc.journal.pagination
735-739
dc.journal.pais
Alemania
dc.journal.ciudad
Berlin
dc.description.fil
Fil: Orzi, Daniel Jesús Omar. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.description.fil
Fil: Alvira, Fernando Carlos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Bilmes, Gabriel Mario. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.journal.title
Applied Physics A: Materials Science and Processing
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.springer.com/article/10.1007/s00339-012-7230-x
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://dx.doi.org/10.1007/s00339-012-7230-x


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