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dc.contributor.author Orzi, Daniel Jesús Omar
dc.contributor.author Alvira, Fernando Carlos
dc.contributor.author Bilmes, Gabriel Mario
dc.date.available 2018-10-17T17:48:00Z
dc.date.issued 2013-03
dc.identifier.citation Orzi, Daniel Jesús Omar; Alvira, Fernando Carlos; Bilmes, Gabriel Mario; Determination of femtosecond ablation thresholds by using laser ablation induced photoacoustics (LAIP); Springer; Applied Physics A: Materials Science and Processing; 110; 3; 3-2013; 735-739
dc.identifier.issn 0947-8396
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11336/62587
dc.description.abstract Femtosecond laser material processing as micromachining and nanoparticles fabrication require a careful control of the fluences deposited on the samples. In many cases, best results are obtained by using fluences slightly above the Laser Ablation Threshold (LAT), therefore its accurate determination is an important requirement. LAT can be obtained by measuring the intensity of the acoustic signal generated during the ablation process as a function of the laser fluence. In this work femtosecond laser ablation thresholds of commercially polished stainless steel plates, white high impact polystyrene, frosted glass, antique rag papers and silicon oxynitride thin films were determined by using laser ablation induced photoacoustics (LAIP). Results were compared with similar data previously obtained by using a nanosecond Nd:YAG laser. © Springer-Verlag 2012.
dc.format application/pdf
dc.language.iso eng
dc.publisher Springer
dc.rights info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject LIBS
dc.subject laser ablation
dc.subject ablation threshold
dc.subject laser ablation induced photoacoustic (LAIP)
dc.title Determination of femtosecond ablation thresholds by using laser ablation induced photoacoustics (LAIP)
dc.type info:eu-repo/semantics/article
dc.type info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated 2018-10-16T18:29:01Z
dc.journal.volume 110
dc.journal.number 3
dc.journal.pagination 735-739
dc.journal.pais Alemania
dc.journal.ciudad Berlin
dc.description.fil Fil: Orzi, Daniel Jesús Omar. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.description.fil Fil: Alvira, Fernando Carlos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina
dc.description.fil Fil: Bilmes, Gabriel Mario. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.journal.title Applied Physics A: Materials Science and Processing
dc.relation.alternativeid info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.springer.com/article/10.1007/s00339-012-7230-x
dc.relation.alternativeid info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://dx.doi.org/10.1007/s00339-012-7230-x
dc.conicet.fuente unificacion


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