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Corrigendum to "Effect of thickness on structural and electrical properties of Al-doped ZnO films"[Thin Solid Films] 574 (2015) 162-168

Garces Pineda, Felipe AndresIcon ; Budini, NicolasIcon ; Schmidt, Javier AlejandroIcon ; Arce, Roberto DelioIcon
Fecha de publicación: 08/2015
Editorial: Elsevier
Revista: Thin Solid Films
ISSN: 0040-6090
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:

Resumen

The authors apologize for some mistakes detected in the above-mentioned article. In the first place, the conductivity values of the vertical axis in Fig. 6 were wrong and, in fact, they differ from those mentioned in the discussion.
Palabras clave: Zinc Oxide
 
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Formato: PDF
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Atribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 Argentina (CC BY-NC-ND 2.5 AR)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/5977
URL: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609015005787
DOI: http://dx.doi.org/ 10.1016/j.tsf.2015.05.044
DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.05.044
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Citación
Garces Pineda, Felipe Andres; Budini, Nicolas; Schmidt, Javier Alejandro; Arce, Roberto Delio; Corrigendum to "Effect of thickness on structural and electrical properties of Al-doped ZnO films"[Thin Solid Films] 574 (2015) 162-168; Elsevier; Thin Solid Films; 589; 8-2015; 877-877
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