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dc.contributor.author
Pérez, Pablo Daniel
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dc.contributor.author
Sepulveda Peñaloza, Andres Humberto
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dc.contributor.author
Castellano, Gustavo Eugenio
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dc.contributor.author
Trincavelli, Jorge Carlos
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dc.date.available
2018-07-04T14:09:16Z
dc.date.issued
2015-12
dc.identifier.citation
Pérez, Pablo Daniel; Sepulveda Peñaloza, Andres Humberto; Castellano, Gustavo Eugenio; Trincavelli, Jorge Carlos; Experimental determination of multiple ionization cross sections in Si by electron impact; American Physical Society; Physical Review A: Atomic, Molecular and Optical Physics; 92; 6; 12-2015; 62708001-62708008
dc.identifier.issn
1050-2947
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/51156
dc.description.abstract
The thin sample method is often used to experimentally determine ionization cross sections, especially when focusing on the low overvoltage region. The simplicity of the formalism involved in this method is very appealing, but some experimental complications arise in the preparation of thin films. In this work, a thick sample method was used to measure the Si-K x-ray production cross section by electron impact. The good agreement between the results obtained and the values reported in the literature validates the method and the parameters used. The advantages and disadvantages of the method are discussed and its application is extended to the determination of Si multiple-ionization cross sections, where the very low emission rates (around two orders of magnitude lower than the single-ionization case) make the use of the thin sample method impracticable.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
American Physical Society
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Cross-Section
dc.subject
Multiple
dc.subject
Ionisation
dc.subject
Electron
dc.subject.classification
Astronomía
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dc.subject.classification
Ciencias Físicas
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dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
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dc.title
Experimental determination of multiple ionization cross sections in Si by electron impact
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2018-07-03T21:53:46Z
dc.journal.volume
92
dc.journal.number
6
dc.journal.pagination
62708001-62708008
dc.journal.pais
Estados Unidos
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dc.journal.ciudad
Nueva Yotk
dc.description.fil
Fil: Pérez, Pablo Daniel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola. Universidad Nacional de Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola; Argentina. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física; Argentina
dc.description.fil
Fil: Sepulveda Peñaloza, Andres Humberto. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola. Universidad Nacional de Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola; Argentina. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física; Argentina
dc.description.fil
Fil: Castellano, Gustavo Eugenio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola. Universidad Nacional de Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola; Argentina. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física; Argentina
dc.description.fil
Fil: Trincavelli, Jorge Carlos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola. Universidad Nacional de Córdoba. Instituto de Física Enrique Gaviola; Argentina. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física; Argentina
dc.journal.title
Physical Review A: Atomic, Molecular and Optical Physics
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevA.92.062708
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://journals.aps.org/pra/abstract/10.1103/PhysRevA.92.062708
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