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dc.contributor.author
Bilovol, Vitaliy
dc.contributor.author
Gil Rebaza, Arles Víctor
dc.contributor.author
Mudarra Navarro, Azucena Marisol
dc.contributor.author
Errico, Leonardo Antonio
dc.contributor.author
Fontana, Marcelo
dc.contributor.author
Arcondo, Bibiana Graciela
dc.date.available
2018-06-06T19:12:12Z
dc.date.issued
2017-12
dc.identifier.citation
Bilovol, Vitaliy; Gil Rebaza, Arles Víctor; Mudarra Navarro, Azucena Marisol; Errico, Leonardo Antonio; Fontana, Marcelo; et al.; Indium local geometry in In-Sb-Te thin films using XANES and DFT calculations; Elsevier Science; Applied Surface Science; 425; 12-2017; 1066-1073
dc.identifier.issn
0169-4332
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/47539
dc.description.abstract
In-Sb-Te when is a thin film presents a huge difference in its electrical resistivity when transform from the amorphous (insulating) to the crystalline (conducting) phase. This property made this system one of the main phase-change materials used in the data storage industry. The change in the electrical conductivity is probably associated to a change in the bonding geometry of some of its constituents. To explore this point, we present in this work an study of the bonding geometry of In atoms in In-Sb-Te films by means of In K-edge X-ray absorption near edge structure (XANES) spectroscopy using synchrotron radiation in both as deposited (amorphous) and crystalline thin films obtained as a result of resistance (R) vs temperature (T) measurements. Comparison of the XANES spectra obtained for ternary amorphous films and binary crystalline reference films suggests that in amorphous films the bonding geometry of In atoms is tetrahedral-like. After the thermal annealing has been carried out the differences in the XANES spectra of the as deposited and the annealed films indicate that the bonding geometry of In atoms changes. Based on X-ray diffraction results and ab initio calculations in the framework of the Density Functional Theory (DFT) we show that the new coordination geometry is associated with a tendency of In atoms towards octahedral-like.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier Science
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.subject
Amorphous Films
dc.subject
Dft
dc.subject
In-Sb-Te
dc.subject
Phase Change Memories
dc.subject
Xanes
dc.subject.classification
Otras Ciencias Físicas
dc.subject.classification
Ciencias Físicas
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
dc.title
Indium local geometry in In-Sb-Te thin films using XANES and DFT calculations
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2018-06-05T20:06:33Z
dc.journal.volume
425
dc.journal.pagination
1066-1073
dc.journal.pais
Países Bajos
dc.journal.ciudad
Amsterdam
dc.description.fil
Fil: Bilovol, Vitaliy. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Houssay. Instituto de Tecnologías y Ciencias de la Ingeniería "Hilario Fernández Long". Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Instituto de Tecnologías y Ciencias de la Ingeniería "Hilario Fernández Long"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Gil Rebaza, Arles Víctor. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Instituto de Física La Plata. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física La Plata; Argentina
dc.description.fil
Fil: Mudarra Navarro, Azucena Marisol. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Instituto de Física La Plata. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física La Plata; Argentina
dc.description.fil
Fil: Errico, Leonardo Antonio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Instituto de Física La Plata. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física La Plata; Argentina
dc.description.fil
Fil: Fontana, Marcelo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Houssay. Instituto de Tecnologías y Ciencias de la Ingeniería "Hilario Fernández Long". Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Instituto de Tecnologías y Ciencias de la Ingeniería "Hilario Fernández Long"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Arcondo, Bibiana Graciela. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Houssay. Instituto de Tecnologías y Ciencias de la Ingeniería "Hilario Fernández Long". Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Instituto de Tecnologías y Ciencias de la Ingeniería "Hilario Fernández Long"; Argentina
dc.journal.title
Applied Surface Science
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.07.063
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433217320536


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