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dc.contributor.author
Campo, David Nazareno
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dc.contributor.author
Stegmayer, Georgina
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dc.contributor.author
Milone, Diego Humberto
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dc.date.available
2018-06-05T16:23:56Z
dc.date.issued
2016-08
dc.identifier.citation
Campo, David Nazareno; Stegmayer, Georgina; Milone, Diego Humberto; A new index for clustering validation with overlapped clusters; Pergamon-Elsevier Science Ltd; Expert Systems with Applications; 64; 8-2016; 549-556
dc.identifier.issn
0957-4174
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/47318
dc.description.abstract
External validation indexes allow similarities between two clustering solutions to be quantified. With classical external indexes, it is possible to quantify how similar two disjoint clustering solutions are, where each object can only belong to a single cluster. However, in practical applications, it is common for an object to have more than one label, thereby belonging to overlapped clusters; for example, subjects that belong to multiple communities in social networks. In this study, we propose a new index based on an intuitive probabilistic approach that is applicable to overlapped clusters. Given that recently there has been a remarkable increase in the analysis of data with naturally overlapped clusters, this new index allows to comparing clustering algorithms correctly. After presenting the new index, experiments with artificial and real datasets are shown and analyzed. Results over a real social network are also presented and discussed. The results indicate that the new index can correctly measure the similarity between two partitions of the dataset when there are different levels of overlap in the analyzed clusters.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Pergamon-Elsevier Science Ltd
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Overlapped Clusters
dc.subject
Validation Index
dc.subject
External Validation
dc.subject
Cluster Perturbation
dc.subject.classification
Ingeniería de Sistemas y Comunicaciones
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
A new index for clustering validation with overlapped clusters
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2018-05-31T21:00:55Z
dc.journal.volume
64
dc.journal.pagination
549-556
dc.journal.pais
Países Bajos
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dc.journal.ciudad
Amsterdam
dc.description.fil
Fil: Campo, David Nazareno. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Santa Fe. Instituto de Investigación en Señales, Sistemas e Inteligencia Computacional. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería y Ciencias Hídricas. Instituto de Investigación en Señales, Sistemas e Inteligencia Computacional; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Santa Fe. Centro de Investigación y Desarrollo de Ingeniería en Sistemas de Información; Argentina
dc.description.fil
Fil: Stegmayer, Georgina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Santa Fe. Instituto de Investigación en Señales, Sistemas e Inteligencia Computacional. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería y Ciencias Hídricas. Instituto de Investigación en Señales, Sistemas e Inteligencia Computacional; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Santa Fe. Centro de Investigación y Desarrollo de Ingeniería en Sistemas de Información; Argentina
dc.description.fil
Fil: Milone, Diego Humberto. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Santa Fe. Instituto de Investigación en Señales, Sistemas e Inteligencia Computacional. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería y Ciencias Hídricas. Instituto de Investigación en Señales, Sistemas e Inteligencia Computacional; Argentina
dc.journal.title
Expert Systems with Applications
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0957417416304158
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.eswa.2016.08.021
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